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Séances de cours associées (44)

Analyses microscopiques et sources d'électrons

Couvre les analyses microscopiques utilisant la microscopie optique et électronique, ainsi que les sources d'électrons.

Microscopie électronique : TEM

Explore la microscopie électronique de transmission (TEM), couvrant les modèles de diffraction, la formation d'images et les mécanismes de contraste.

Composants de microscopie électronique

Couvre les composants du microscope électronique, les systèmes de vide, les aberrations, les détecteurs et les porte-échantillons.

Microscopie électronique de transmission : imagerie et diffraction MOOC: Microscopie électronique à transmission pour les sciences des matériaux

Explore le fonctionnement d'un microscope électronique de transmission, couvrant les modes d'imagerie et les effets des lentilles.

Microscopie électronique de transmission

Couvre les principes et les applications de la microscopie électronique de transmission, y compris l'imagerie, la diffraction, les mécanismes de contraste et les techniques in situ.

Préparation de l'échantillon pour l'observation TEM

Explore les méthodes et les défis de la préparation des échantillons pour l'observation TEM, en soulignant l'importance de la taille, de la composition et des mesures de sécurité.

Microscopie: Aspects généraux et techniques

Couvre les aspects généraux et les techniques de la microscopie, en mettant l'accent sur l'importance de la résolution et en explorant le tunneling de balayage et la microscopie à force atomique.

Microscopie de la Force Atomique: Métrologie à l'échelle nanométrique

Explore la microscopie de la Force atomique, qui couvre les principes, les applications, la résolution, les mécanismes de rétroaction et les techniques d'imagerie.

STEM: Microscopie électronique à transmission par balayage

Explore les principes de la microscopie électronique à transmission par balayage (STEM) pour la microscopie analytique, couvrant la diffraction TEM, les détecteurs et l'analyse EDS.

Microscopie de sonde de balayage: Fondamentaux

Couvre les principes fondamentaux de la microscopie à sonde à balayage, y compris son histoire, ses principes, ses instruments et ses applications dans la recherche et l'industrie des semi-conducteurs.

Microscopie électronique de transmission: bases

Couvre les principes, les applications et les composants de la microscopie électronique à transmission (TEM), y compris les modes d'imagerie et les techniques avancées.

Microscopie de sonde de balayage : Cantilevers d'auto-détection

Explore les encorbellements à détection automatique dans la microscopie par sonde à balayage et les avantages des systèmes capteurs-actionneurs intégrés pour la collecte de données à grande vitesse.

Techniques de résolution atomique

Couvre les synchrotrons, les lasers à rayons X et les techniques de résolution atomique comme la cryo-EM et la microscopie de tunnel à balayage.

NMF guidé par la physique pour l'analyse des données STEM/EDXS

Explore NMF guidé par la physique pour l'analyse de données STEM/EDXS, couvrant les défis, l'optimisation, les contraintes et les avantages de la modélisation.

Introduction et interaction avec la matière radioactive

Introduit la microscopie électronique, couvrant l'organisation pratique, la préparation d'échantillon, l'interaction rayonnement-matière, et les mécanismes de détecteur.

Diffraction : théorie et formules

Couvre la théorie et les formules de la diffraction, y compris la diffraction de Fresnel et de Fraunhofer, les théorèmes intégraux et les méthodes géométriques.

TEM haute résolution : Imagerie et contraste

Explore les principes TEM haute résolution pour l'imagerie cristalline au niveau atomique.

Équation de Boltzmann: Terme de diffusion

Couvre le terme de diffusion de l'équation de Boltzmann et la diffusion des porteurs, y compris les phonons, les électrons, les photons et les molécules.

Microscopie électronique à transmission : histoire et correction de l'aberration

Explore l'histoire de la microscopie électronique à transmission et les progrès des techniques de correction des aberrations, en discutant de divers contrastes dans l'imagerie TEM.

Pince à épiler optique: bases et applications

Couvre les bases des pinces optiques et leurs applications en microscopie, manipulation et spectroscopie, ainsi que l'alignement des molécules à l'aide d'impulsions laser.