Séance de cours

Composants de microscopie électronique

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Dans cours

MSE-352: Introduction à la microscopie + TP

Ce cours d'introduction à la microscopie a pour but de donner un apperçu des différentes techniques d'analyse de la microstructure et de la composition des matériaux, en particulier celles liées aux microscopies électronique et optique. Le cours comprend d ...

Description

Cette séance de cours présente les composants d'un microscope électronique, y compris les éléments optiques, les détecteurs et le système de vide. Les sujets abordés comprennent les interactions électron-matière, les types de microscopes électroniques (SEM et TEM), les systèmes à vide et les systèmes de canons à électrons. La séance de cours traite également de l'importance de la propreté du vide, des différents types de pompes à vide et des conséquences de l'utilisation d'électrons en microscopie. Diverses aberrations de l'optique électronique, telles que l'aberration sphérique et l'aberration chromatique, sont expliquées. La séance de cours se termine par un aperçu détaillé des détecteurs d'électrons, des détenteurs de spécimens et de la littérature utile dans le domaine.

Enseignant·e·s (3)

Aïcha Hessler-Wyser

Marco Cantoni

Enseignement et PhD A co-dirigé les thèses EPFL de Pierre Burdet, Amélie Bazzoni, Farhang Nabiei Cours 3D Electron Microscopy and FIB-Nanotomography MSE-704 Introduction à la microscopie + TP MSE-352 Ce cours d'introduction à la microscopie a pour but de donner un apperçu des différentes techniques d'analyse de la microstructure et de la composition des matériaux, en particulier celles liées aux microscopies électronique et optique. Le cours comprend des cours ainsi que des d

Emad Oveisi

Dr Emad Oveisi is a senior scientist at the Interdisciplinary Centre for Electron Microscopy (CIME), EPFL. Emad received a BSc in Metallurgy and Materials Engineering (2005) and an MSc in Materials Science (2008) both from the University of Tehran (Iran). He graduated with a PhD in Materials Science and Engineering at EPFL in 2014 for a thesis on the "Three-Dimensional STEM Imaging of Dislocations" under the direction of Prof. Cécile Hébert. The PhD thesis at the Electron Spectrometry and Microscopy Laboratory (LSME), served as an introduction to many of the advanced microscopy techniques that have proven to be a platform for his research career. A post-doctoral research at the centre for electron microscopy gave him the opportunity to peruse a cutting-edge research on one of the most modern aberration-corrected transmission electron microscopes.Since the inauguration of the Energypolis campus of EPFL in Sion, he has been the manager and reference scientist of the electron microscopy platform of EPFL-Valais, working with 9 research groups and more than 200 researchers. In addition to this core responsibility, he provides advanced microscopy consulting and service to EPFL scientists and assist their research to the highest level possible. Emad Oveisi’s research focuses on the application and development of novel electron microscopy techniques, with emphasis on 3D imaging of crystal defects, as well as the precision measurement of materials properties using aberration-corrected S/TEM. In 2018, he received the prestigious Microscopy Innovation Award for inventing “Single-shot three-dimensional electron imaging”, a novel technique that enables 3D imaging of in situ dynamics. In 2016 Emad was elected as an interim representative for the scientific staff ("corps intermédiaire") to the Council of the Institute of Chemistry (ISIC). Since 2019, he is a member of EPFL Teachers’ Council (CCE) and has been elected as one of its four bureau members. This role allows him to be exposed to new ideas and pedagogical challenges, as well being involved in discussions with the Vice Presidency of Education (VPE) and other teaching organisations for defining teaching strategies at the EPFL.

Source officielle

Proximité ontologique

Physique

Optique: Optique géométrique

Industrial and production engineering

Manufacturing engineering: Electron-beam technology

Concepts associés (32)

Aberration (optique)

Une aberration est un défaut du système optique qui se répercute sur la qualité de l'image (flou, irisation ou déformation). Les aberrations sont définies par rapport à l'optique paraxiale et matérialisent le fait que certains rayons ne convergent pas vers l'image prédite par l'optique géométrique. Ainsi, la théorie des aberrations s'inscrit dans le cadre de l'optique géométrique et ne prend pas en compte les aspects ondulatoire ou corpusculaire de la lumière. Il est possible de classer les aberrations en deux groupes.

Microscopie électronique en transmission

vignette|upright=1.5|Principe de fonctionnement du microscope électronique en transmission. vignette|Un microscope électronique en transmission (1976). La microscopie électronique en transmission (MET, ou TEM pour l'anglais transmission electron microscopy) est une technique de microscopie où un faisceau d'électrons est « transmis » à travers un échantillon très mince. Les effets d'interaction entre les électrons et l'échantillon donnent naissance à une image, dont la résolution peut atteindre 0,08 nanomètre (voire ).

Spherical aberration

In optics, spherical aberration (SA) is a type of aberration found in optical systems that have elements with spherical surfaces. Lenses and curved mirrors are prime examples, because this shape is easier to manufacture. Light rays that strike a spherical surface off-centre are refracted or reflected more or less than those that strike close to the centre. This deviation reduces the quality of images produced by optical systems. The effect of spherical aberration was first identified by Ibn al-Haytham who discussed it in his work Kitāb al-Manāẓir.

Objectif photographique

vignette|Gauche : 1:2.8/50 MacroCentre : 1:4-5.6/70-300 Droite : 1:4-5.6/10-20 Un objectif photographique est un système optique convergent formé de plusieurs lentilles, et éventuellement de miroirs, donnant des images réelles sur la surface sensible de l'appareil photographique. Un objectif se caractérise en premier lieu par sa distance focale (ou sa plage de focale pour un zoom), son ouverture maximale, et le format maximum de la surface sensible (film ou capteur) avec lequel il est utilisable.

Lentilles de contact

thumb|215px|Une paire de verres de contact posés face concave vers le haut. thumb|right|215px|Lentilles de contact de teinte bleue dans leur emballage d'origine. Une lentille de contact (aussi appelée verre de contact, lentille ou encore contact) est une lentille correctrice, cosmétique ou thérapeutique placée sur la cornée de l'œil.

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Séances de cours associées (64)

Microscopie électronique: Techniques, composants et applications

Couvre les techniques de microscopie électronique, les composants et les applications, y compris le développement historique, la correction des aberrations de la lentille et l'interaction des électrons avec la matière.

SEM Basics: Introduction à la microscopie électronique

Introduit les bases de la microscopie électronique à balayage, couvrant les sources d'électrons, les lentilles, le système de vide et les détecteurs.

Correction d'aberration dans HRTEM

Explique les principes de HRTEM, y compris le transfert de contraste, les lentilles et la correction des aberrations.

Composantes et fonctionnement du TEM

Explore les composants et le fonctionnement d'un microscope électronique à transmission (TEM), y compris les systèmes de vide, les sources d'électrons, les lentilles, les aberrations et les détecteurs.

TEM haute résolution : Imagerie et contraste

Explore les principes TEM haute résolution pour l'imagerie cristalline au niveau atomique.

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