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Ce cours propose une introduction complète à la microscopie électronique à transmission (MET) dans le domaine de la science des matériaux. Pour un instrument utilisé par un seul utilisateur, la MET moderne fournit une plate-forme analytique d'une polyvalence inégalée, donnant accès à des informations structurelles et chimiques de l'échelle du micromètre à celle du sub-angstrom. Dans un échantillon mince et transparent aux électrons, il est possible de mesurer la cristallinité, la structure, la taille et les défauts des grains, ainsi que la composition chimique. Le réseau cristallin peut être imagé avec une résolution atomique, ce qui permet d'observer les joints de grains et les interfaces. Il s'agit de la seule méthode d'analyse structurelle directe pour l'étude des nanoparticules.
Ce cours vous permettra d'acquérir une compréhension approfondie du TEM moderne et du lien entre :
l'optique et le fonctionnement de l'instrument ; la physique des interactions entre les électrons et la matière ; les propriétés des matériaux de l'échantillon. Cela permet d'acquérir les connaissances de base pour :
identifier les techniques TEM adaptées à la résolution de problèmes scientifiques spécifiques ; interpréter les données TEM présentées dans les articles ; apprécier l'impact des progrès technologiques qui ont, par exemple, conduit à une résolution inférieure à l'angström grâce à la correction de l'aberration. Il peut également servir de base à une formation pratique ultérieure sur ce remarquable instrument, et de tremplin vers l'apprentissage de techniques très avancées portant des noms magiques tels que "holographie en champ sombre" ou "spectroscopie de perte d'énergie des électrons résolue angulairement".