Microscopie de la Force Atomique: Métrologie à l'échelle nanométrique

Cette séance de cours porte sur les principes et les applications de la microscopie de la force atomique (AFM), un outil polyvalent pour les mesures à l'échelle nanométrique. Les sujets abordés comprennent les modes d'imagerie AFM, le cantilever AFM, la résolution, les courbes de force, les mécanismes de rétroaction et divers modes de sonde à balayage. L'instructeur discute des défis que pose la mesure des petits objets en raison de la limite de diffraction et de l'importance de la rétroaction pour maintenir une interaction constante entre les bouts et les échantillons. En outre, la séance de cours explore la fabrication de blocs de construction nanométriques pour créer des dispositifs utiles et les différentes forces agissant entre la pointe et l'échantillon. Diverses techniques d'imagerie AFM telles que la modulation d'amplitude et l'imagerie de phase sont également expliquées, ainsi que l'importance de la dynamique de cantilever et des artefacts de pointe.