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Microscopie électronique de transmission : imagerie et diffraction

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Dans cours

MSE-450: Electron microscopy: advanced methods

With this course, the student will learn about advanced methods in transmission electron microscopy, especially what is the electron optical setup involved in the acquisition, and how to interpret the data. After the course, students will be able to unders ...

Description

Cette séance de cours couvre le fonctionnement d'un Microscope Electronique de Transmission (TEM), axé sur l'accès à différents modes d'imagerie et la compréhension des effets sur les lentilles. Les diapositives détaillent la configuration, les réglages de la caméra, les ouvertures et les temps d'intégration utilisés dans l'imagerie TEM et la diffraction. L'instructeur montre comment ajuster la concentration, la taille des points et le temps d'exposition, fournissant un aperçu complet de l'opération TEM.

Dans MOOC

Microscopie électronique à transmission pour les sciences des matériaux

Ce cours propose une introduction complète à la microscopie électronique à transmission (MET) dans le domaine de la science des matériaux. Pour un instrument utilisé par un seul utilisateur, la MET moderne fournit une plate-forme analytique d'une polyvalence inégalée, donnant accès à des informations structurelles et chimiques de l'échelle du micromètre à celle du sub-angstrom. Dans un échantillon mince et transparent aux électrons, il est possible de mesurer la cristallinité, la structure, la taille et les

Enseignant·e·s (2)

Cécile Hébert

Cécile Hébert est née en France, en 1970. Elle a obtenu son diplôme d'ingénieure (option physique) puis son doctorat ("Etude d'un nouveau filtre d'énergie des électrons pour le microscope électronique à transmission") à l'Ecole centrale de Paris. Doctorante dans le laboratoire du professeur Jouffrey, elle a créé un nouveau filtre d'énergie des électrons, pour le microscope électronique à transmission, qui a été breveté par le CNRS. En tant que post-doctorante dans le laboratoire du professeur Schattschneider, elle a mené à bien une étude marquante sur la simulation des structures fines des seuils de perte d'énergie des électrons en comparaison avec l'expérience. En 2005, elle a été l'une des actrices principales dans l'élaboration du projet européen CHIRALTEM visant à développer dans le microscope électronique à transmission une méthode similaire à la méthode XMCD (X Ray Magnetic Circular Dichroism) connue en spectrométrie d'absorption des rayons X.

Duncan Thomas Lindsay Alexander

Duncan Alexander graduated with a PhD in Materials Science and Metallurgy at the University of Cambridge in 2003 for a thesis on the kinetics of metallurgical phase transformations under the direction of Lindsay Greer. From 2003 to 2007 he held a Royal Society Overseas Research Fellowship at the University of Sydney, and then post-doctoral positions at the University of Cambridge and Arizona State University, working first on materials electrochemistry with Carsten Schwandt and Derek Fray, and then the characterization of atmospheric aerosol particles with Peter Crozier and Jim Anderson. In 2007 he came to EPFL as a scientific collaborator in the group of László Forró, and from 2008 to 2017 he was a staff scientist at EPFL’s Interdisciplinary Centre for Electron Microscopy (CIME), specializing in the application of advanced transmission electron microscopy techniques and enabling electron microscopy research activities for groups across EPFL through teaching, training and support. In 2018 he joined the Electron Spectrometry and Microscopy Laboratory (LSME) as a full-time research scientist dedicated to advancing transmission electron microscopy techniques, and was promoted to the status of Research and Teaching Associate. In 2019, together with LSME director Cécile Hébert, he launched the first MOOC on transmission electron microscopy for materials science: https://www.coursera.org/learn/microscopy/For a complete list of peer-reviewed publications, see:https://orcid.org/0000-0003-4350-8587

Source officielle

Concepts associés (32)

Diffraction de Fraunhofer

En optique et électromagnétisme, la 'diffraction de Fraunhofer, encore nommée diffraction en champ lointain' ou approximation de Fraunhofer, est l'observation en champ lointain de la figure de diffraction par un objet diffractant. Cette observation peut aussi se faire dans le plan focal image d'une lentille convergente. Elle s'oppose à la diffraction de Fresnel qui décrit le même phénomène de diffraction mais en champ proche.

Diffraction de Fresnel

En optique et électromagnétisme, la diffraction de Fresnel, encore nommée diffraction en champ proche ou approximation de Fresnel, est une description en champ proche du phénomène physique de diffraction qui apparaît lorsqu'une onde diffracte à travers une ouverture ou autour d'un objet. Elle s'oppose à la diffraction de Fraunhofer qui décrit le même phénomène de diffraction mais en champ lointain.

Photophone (appareil)

Photophone est un mot introduit en 2002 pour désigner les téléphones mobiles dont le capteur permet de prendre des photos numériques de haute capables de concurrencer celles des appareils photographiques numériques compacts. Dans cette acception, la majorité des téléphones mobiles commercialisés actuellement, smartphones et téléphones mobiles basiques (excepté les produits d'entrée de gamme) correspondent à cette définition du photophone. thumb|Sony Ericsson K800i, l'un des premiers téléphones portables à être équipé d'un capteur de 3,2 mégapixels.

Microscope électronique en transmission à balayage

vignette|Exemple de Microscope électronique en transmission à balayage VG501 Un microscope électronique en transmission à balayage (METB ou en anglais STEM pour scanning transmission electron microscope) est un type de microscope électronique dont le principe de fonctionnement allie certains aspects du microscope électronique à balayage et du microscope électronique en transmission. Une source d'électrons focalise un faisceau d'électrons qui traverse l'échantillon.

Microscopie électronique en transmission

vignette|upright=1.5|Principe de fonctionnement du microscope électronique en transmission. vignette|Un microscope électronique en transmission (1976). La microscopie électronique en transmission (MET, ou TEM pour l'anglais transmission electron microscopy) est une technique de microscopie où un faisceau d'électrons est « transmis » à travers un échantillon très mince. Les effets d'interaction entre les électrons et l'échantillon donnent naissance à une image, dont la résolution peut atteindre 0,08 nanomètre (voire ).

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Séances de cours associées (36)

Microscopie électronique de transmission: techniques avancées MOOC: Microscopie électronique à transmission pour les sciences des matériaux

Explore les techniques avancées en microscopie électronique de transmission, en se concentrant sur l'imagerie de contraste de phase et les réglages de la caméra.

Microscopie électronique : TEM

Explore la microscopie électronique de transmission (TEM), couvrant les modèles de diffraction, la formation d'images et les mécanismes de contraste.

Composants de microscopie électronique

Couvre les composants du microscope électronique, les systèmes de vide, les aberrations, les détecteurs et les porte-échantillons.

Diffraction : théorie et formules

Couvre la théorie et les formules de la diffraction, y compris la diffraction de Fresnel et de Fraunhofer, les théorèmes intégraux et les méthodes géométriques.

Microscopie électronique de transmission

Couvre les principes et les applications de la microscopie électronique de transmission, y compris l'imagerie, la diffraction, les mécanismes de contraste et les techniques in situ.

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