Approches de caractérisation pour les matériaux solides
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Couvre les principes et les applications de la microscopie électronique de transmission, y compris l'imagerie, la diffraction, les mécanismes de contraste et les techniques in situ.
Couvre l'algorithme de transformée de Fourier rapide (FFT), l'interpolation, les filtres, le traitement d'image et les techniques expérimentales en TEM et STM.
Introduit les bases de la microscopie électronique, couvrant les composants, les interactions, les modes d'imagerie et les techniques de nanofabrication.
Explore les techniques spectroscopiques à base de synchrotron et leurs applications dans la chimie locale, les structures magnétiques et les structures électroniques.
Présente aux étudiants des expériences pratiques en métrologie, couvrant des sujets comme les expériences à photo unique, l'AFM, le SEM et l'instrumentation clé.
Couvre le développement historique et les composantes clés de la microscopie électronique de transmission, y compris le pistolet à électrons, les lentilles, les ouvertures et les porte-échantillons.
Couvre les bases de la microscopie électronique à transmission, y compris les composants, le fonctionnement, les modes d'imagerie, l'analyse de diffraction et l'interaction des électrons de haute énergie avec la matière.
Explore la détermination de la structure des protéines à l'aide de techniques RMN et Cryo-EM, couvrant les déplacements chimiques, le marquage isotopique, le NOE et les méthodes d'imagerie à haute résolution.
Explore la synthèse des nanocristaux, en se concentrant sur les mécanismes de nucléation et de croissance, les théories classiques et non classiques, et les mécanismes de réaction chimique pour les oxydes métalliques et les semi-conducteurs.
Explore les techniques avancées de microscopie électronique pour les matériaux 2D, couvrant l'imagerie à haute résolution, réduisant les dommages, la diffraction et la ptychographie.
Couvre les bases de la microscopie électronique à balayage, y compris les interactions électron-échantillon, les détecteurs, la préparation des échantillons, la formation d'images, la résolution et les contrastes dans les images SEM.
Explore la formation d'images HRTEM par l'interférence de faisceaux transmis et diffractés, couvrant la fonction de transfert de contraste, la correction des aberrations et les techniques de récupération de phase.