Microscopie électronique : bases et techniques

Cette séance de cours couvre les composantes fondamentales des microscopes électroniques, y compris les sources d'électrons, les lentilles et les détecteurs. Il explique les interactions des électrons avec les échantillons, les principes de travail de SEM, TEM et FIB, et les facteurs influençant la résolution. On discute des avantages de chaque technique, des exigences relatives aux échantillons et des méthodes de préparation. Les modes d'imagerie tels que SE, BS et EDX dans SEM sont expliqués, ainsi que les méthodes de nanofabrication utilisant SEM/FIB. La séance se penche également sur la corrélation entre AFM et SEM et met en valeur des applications comme la tomographie de rigidité et l'imagerie 3D.