Posez n’importe quelle question sur les cours, conférences, exercices, recherches, actualités, etc. de l’EPFL ou essayez les exemples de questions ci-dessous.
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Présente des concepts optiques fondamentaux, couvrant la réfraction, la réflexion, l'interférence, la polarisation, et plus encore, explorant le comportement de la lumière dans différents médias.
Présente les concepts fondamentaux de l'optique, couvrant l'optique quantique, l'optique ondulée et l'optique électromagnétique, ainsi que les principes de réflexion, de réfraction et de formation d'images.
Explore les techniques avancées en microscopie électronique de transmission, en se concentrant sur l'imagerie de contraste de phase et les réglages de la caméra.
Couvre les techniques d'exploitation avancées pour un Microscope Electronique de Transmission (TEM), y compris la mise en place de l'ensemble de travail et le réglage fin de l'image.
Explore les composants et le fonctionnement d'un microscope électronique à transmission (TEM), y compris les systèmes de vide, les sources d'électrons, les lentilles, les aberrations et les détecteurs.
Explore la formation d'images HRTEM par l'interférence de faisceaux transmis et diffractés, couvrant la fonction de transfert de contraste, la correction des aberrations et les techniques de récupération de phase.
Explore la transformation des ondes sphériques en ondes convergentes à l'aide de lentilles et discute des propriétés des faisceaux gaussiens et de la focalisation des sources thermiques.
Couvre le montage et le réglage d'une caméra pour une capture d'image optimale et des expériences pratiques avec contraste, distance focale et ouverture numérique.
Couvre les techniques de microscopie électronique, les composants et les applications, y compris le développement historique, la correction des aberrations de la lentille et l'interaction des électrons avec la matière.
Explore les modes d'imagerie en TEM, couvrant les interactions électron-matière, les modèles de diffraction, la formation d'images, les principes de contraste et les configurations de détecteurs.
