Séance de cours

Modes d'imagerie en TEM

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Dans cours

MSE-637(b): Transmission electron microscopy and diffraction (b)

This intensive course is intended for researchers who envisage using transmission electron microscopy to study materials samples or to help them interpret TEM data in publications. It presents basics of TEM instrumentation, imaging, electron diffraction, s ...

Description

Cette séance de cours couvre les modes d'imagerie en microscopie électronique à transmission (TEM), y compris les caractéristiques des sources d'électrons, la manipulation des échantillons, les systèmes d'objectifs, les détecteurs et les configurations de caméras. Il explique les interactions électron-matière, les modèles de diffraction électronique et les principes de formation d'images, de contraste et de diffraction dans le TEM. L'accent est mis sur le contraste d'épaisseur de masse, l'imagerie en champ lumineux et en champ sombre, le contraste de phase et la TEM haute résolution. La séance de cours explore également la diffraction électronique de zone sélectionnée, l'imagerie de contraste de diffraction et l'utilisation des franges de Fresnel pour la correction de l'astigmatisme.

Enseignant·e·s (2)

Marco Cantoni

Enseignement et PhD A co-dirigé les thèses EPFL de Pierre Burdet, Amélie Bazzoni, Farhang Nabiei Cours 3D Electron Microscopy and FIB-Nanotomography MSE-704 Introduction à la microscopie + TP MSE-352 Ce cours d'introduction à la microscopie a pour but de donner un apperçu des différentes techniques d'analyse de la microstructure et de la composition des matériaux, en particulier celles liées aux microscopies électronique et optique. Le cours comprend des cours ainsi que des d

Emad Oveisi

Dr Emad Oveisi is a senior scientist at the Interdisciplinary Centre for Electron Microscopy (CIME), EPFL. Emad received a BSc in Metallurgy and Materials Engineering (2005) and an MSc in Materials Science (2008) both from the University of Tehran (Iran). He graduated with a PhD in Materials Science and Engineering at EPFL in 2014 for a thesis on the "Three-Dimensional STEM Imaging of Dislocations" under the direction of Prof. Cécile Hébert. The PhD thesis at the Electron Spectrometry and Microscopy Laboratory (LSME), served as an introduction to many of the advanced microscopy techniques that have proven to be a platform for his research career. A post-doctoral research at the centre for electron microscopy gave him the opportunity to peruse a cutting-edge research on one of the most modern aberration-corrected transmission electron microscopes.Since the inauguration of the Energypolis campus of EPFL in Sion, he has been the manager and reference scientist of the electron microscopy platform of EPFL-Valais, working with 9 research groups and more than 200 researchers. In addition to this core responsibility, he provides advanced microscopy consulting and service to EPFL scientists and assist their research to the highest level possible. Emad Oveisi’s research focuses on the application and development of novel electron microscopy techniques, with emphasis on 3D imaging of crystal defects, as well as the precision measurement of materials properties using aberration-corrected S/TEM. In 2018, he received the prestigious Microscopy Innovation Award for inventing “Single-shot three-dimensional electron imaging”, a novel technique that enables 3D imaging of in situ dynamics. In 2016 Emad was elected as an interim representative for the scientific staff ("corps intermédiaire") to the Council of the Institute of Chemistry (ISIC). Since 2019, he is a member of EPFL Teachers’ Council (CCE) and has been elected as one of its four bureau members. This role allows him to be exposed to new ideas and pedagogical challenges, as well being involved in discussions with the Vice Presidency of Education (VPE) and other teaching organisations for defining teaching strategies at the EPFL.

Source officielle

Concepts associés (32)

Microscope électronique en transmission à balayage

vignette|Exemple de Microscope électronique en transmission à balayage VG501 Un microscope électronique en transmission à balayage (METB ou en anglais STEM pour scanning transmission electron microscope) est un type de microscope électronique dont le principe de fonctionnement allie certains aspects du microscope électronique à balayage et du microscope électronique en transmission. Une source d'électrons focalise un faisceau d'électrons qui traverse l'échantillon.

Microscopie électronique en transmission

vignette|upright=1.5|Principe de fonctionnement du microscope électronique en transmission. vignette|Un microscope électronique en transmission (1976). La microscopie électronique en transmission (MET, ou TEM pour l'anglais transmission electron microscopy) est une technique de microscopie où un faisceau d'électrons est « transmis » à travers un échantillon très mince. Les effets d'interaction entre les électrons et l'échantillon donnent naissance à une image, dont la résolution peut atteindre 0,08 nanomètre (voire ).

Diffraction de Fraunhofer

En optique et électromagnétisme, la 'diffraction de Fraunhofer, encore nommée diffraction en champ lointain' ou approximation de Fraunhofer, est l'observation en champ lointain de la figure de diffraction par un objet diffractant. Cette observation peut aussi se faire dans le plan focal image d'une lentille convergente. Elle s'oppose à la diffraction de Fresnel qui décrit le même phénomène de diffraction mais en champ proche.

Microscope à contraste de phase

thumb|Photographie d'un cellule épithéliale de joue vue par un Microscope à contraste de phase Le microscope à contraste de phase est un microscope qui exploite les changements de phase d'une onde lumineuse traversant un échantillon. Cet instrument fut développé par le physicien hollandais Frederik Zernike dans les années 1930, ce qui lui valut le prix Nobel de physique en 1953. Emilie Bleeker, physicienne reconnue pour le développement d'instruments, est la première à mettre le microscope à contraste de phase en utilisation.

Diffraction

thumb|Phénomène d'interférences dû à la diffraction d'une onde à travers deux ouvertures. La diffraction est le comportement des ondes lorsqu'elles rencontrent un obstacle ou une ouverture ; le phénomène peut être interprété par la diffusion d’une onde par les points de l'objet. La diffraction se manifeste par des phénomènes d'interférence. La diffraction s’observe avec la lumière, mais de manière générale avec toutes les ondes : le son, les vagues, les ondes radio, Elle permet de mettre en évidence le caractère ondulatoire d'un phénomène et même de corps matériels tels que des électrons, neutrons, atomes froids.

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Microscopie électronique de transmission

Couvre les principes et les applications de la microscopie électronique de transmission, y compris l'imagerie, la diffraction, les mécanismes de contraste et les techniques in situ.

Microscopie électronique : TEM

Explore la microscopie électronique de transmission (TEM), couvrant les modèles de diffraction, la formation d'images et les mécanismes de contraste.

Composants de microscopie électronique

Couvre les composants du microscope électronique, les systèmes de vide, les aberrations, les détecteurs et les porte-échantillons.

Microscopie électronique de transmission : imagerie et diffraction MOOC: Microscopie électronique à transmission pour les sciences des matériaux

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