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Explore les interactions faisceau-matière, en se concentrant sur les phénomènes d'émission de l'ionisation électronique du noyau par les rayons X et les électrons, et la concurrence entre Auger et les émissions de rayons X.
Introduit la microscopie électronique, couvrant l'organisation pratique, la préparation d'échantillon, l'interaction rayonnement-matière, et les mécanismes de détecteur.
Explore les principes de la microscopie électronique à balayage, les contrastes de signaux, les facteurs de résolution et les interactions d'échantillons.
Fournit un aperçu du rôle de l'électron dans la science quantique, en se concentrant sur sa dualité onde-particule et le cadre mathématique de la mécanique quantique.
Couvre les relations de dispersion pour les particules, y compris leurs expressions mathématiques et leurs applications en physique des particules et en microscopie électronique.
Couvre la formation de bandes semi-conductrices et présente des expériences démontrant le comportement des porteurs de charge et la dualité onde-particule dans les électrons.
Couvre le terme de diffusion de l'équation de Boltzmann et la diffusion des porteurs, y compris les phonons, les électrons, les photons et les molécules.
Couvre les bases de la microscopie électronique à balayage, y compris l'interaction de la matière électronique, les techniques d'imagerie et les sujets avancés connexes.
Explique la détermination de l'épaisseur du film à l'aide de techniques XPS et AES, couvrant les principes, l'instrumentation et les comparaisons analytiques.
Explore l'ingénierie de la fonction d'onde, le contrôle de la cohérence, les phénomènes de speckle, la microscopie, la dynamique et les résonances plasmatiques.
Explore les modes d'imagerie en TEM, couvrant les interactions électron-matière, les modèles de diffraction, la formation d'images, les principes de contraste et les configurations de détecteurs.
Couvre les principes et les applications de la microscopie électronique de transmission, y compris l'imagerie, la diffraction, les mécanismes de contraste et les techniques in situ.
Couvre les bases de la microscopie électronique à balayage, y compris les interactions électron-échantillon, les détecteurs, la préparation des échantillons, la formation d'images, la résolution et les contrastes dans les images SEM.
