Séance de cours

SEM Basics: Introduction à la microscopie électronique

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Dans cours

MSE-636: Organic semiconductors

Description

Cette séance de cours couvre les bases de la microscopie électronique à balayage (MEB), y compris la configuration, les sources d'électrons, les lentilles, le système de vide et le système de détection. Il explique les interactions électron-matière, la résolution, et pourquoi les électrons rapides sont essentiels. La séance de cours explore également les techniques SEM, telles que l'analyse chimique et les simulations Monte Carlo, et discute des conséquences de l'utilisation des électrons, des composants du système de vide et des différents types de lentilles utilisés dans SEM. Il explore en outre l'optique électronique, les aberrations et les détecteurs, soulignant l'importance de comprendre les compromis dans l'imagerie SEM.

Enseignant·e

Frank Nüesch

Enseignement et PhD Doctorant·es actuel·les Elodie Didier, Ceren Mitmit, João Pedro Ferreira Assunção, Vahid Charkhesht A dirigé les thèses EPFL de Hui Zhang, Simon Johannes Dünki, Yee Song Ko, Lei Wang, Sandra Christina Jenatsch, Nicolas Alexandre Serge Leclaire, Donatas Gesevicius, Surendra Babu Anantharaman, Markus Regnat, Philip Horst Caspari, Patrik Schürch, David Reber, Karen Verena Strassel, Sina Abdolhosseinzadeh, Matthias Diethelm, Francis Owusu, Camilla Arietta Vael-Garn, Yeerlan Adeli, Wei-Hsu

Source officielle

Proximité ontologique

Physique

Optique: Optique géométrique

Industrial and production engineering

Manufacturing engineering: Electron-beam technology

Concepts associés (32)

Microscope électronique

thumb|Microscope électronique construit par Ernst Ruska en 1933.thumb|Collection de microscopes électroniques anciens (National Museum of Health & Medicine). Un microscope électronique (ME) est un type de microscope qui utilise un faisceau d'électrons pour illuminer un échantillon et en créer une très agrandie. Il est inventé en 1931 par des ingénieurs allemands. Les microscopes électroniques ont un pouvoir de résolution supérieur aux microscopes optiques qui utilisent des rayonnements électromagnétiques visibles.

Microscopie électronique en transmission

vignette|upright=1.5|Principe de fonctionnement du microscope électronique en transmission. vignette|Un microscope électronique en transmission (1976). La microscopie électronique en transmission (MET, ou TEM pour l'anglais transmission electron microscopy) est une technique de microscopie où un faisceau d'électrons est « transmis » à travers un échantillon très mince. Les effets d'interaction entre les électrons et l'échantillon donnent naissance à une image, dont la résolution peut atteindre 0,08 nanomètre (voire ).

Microscopie électronique à balayage

thumb|right|Premier microscope électronique à balayage par M von Ardenne thumb|right|Microscope électronique à balayage JEOL JSM-6340F thumb|upright=1.5|Principe de fonctionnement du Microscope Électronique à Balayage La microscopie électronique à balayage (MEB) ou scanning electron microscope (SEM) en anglais est une technique de microscopie électronique capable de produire des images en haute résolution de la surface d’un échantillon en utilisant le principe des interactions électrons-matière.

Lentille optique

vignette|Une bougie se projetant sur une table par un presse-papier formant lentille. Une lentille optique est un composant fait d'un matériau généralement et transparent pour la lumière dans le domaine spectral d'intérêt. C'est le plus souvent un type de verre optique, ou des verres plus classiques, des plastiques, des matériaux organiques, voire des métalloïdes tels que le germanium. Les lentilles sont destinées à faire converger ou diverger la lumière.

Cryomicroscopie électronique

vignette|Un microscope électronique en transmission (2003). La cryomicroscopie électronique (cryo-ME) correspond à une technique particulière de préparation d’échantillons biologiques utilisée en microscopie électronique en transmission. Développée au début des années 1980, cette technique permet de réduire les dommages d’irradiation causés par le faisceau d’électrons. Elle permet également de préserver la morphologie et la structure des échantillons.

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Composants de microscopie électronique

Couvre les composants du microscope électronique, les systèmes de vide, les aberrations, les détecteurs et les porte-échantillons.

Analyses microscopiques et sources d'électrons

Couvre les analyses microscopiques utilisant la microscopie optique et électronique, ainsi que les sources d'électrons.

Microscopie électronique: Techniques, composants et applications

Couvre les techniques de microscopie électronique, les composants et les applications, y compris le développement historique, la correction des aberrations de la lentille et l'interaction des électrons avec la matière.

Microscopie électronique : composants et fonctionnement

Explore l'histoire et le fonctionnement des microscopes électroniques, en se concentrant sur les composants et le pouvoir de résolution.

Microscopie électronique de transmission: bases

Couvre les principes, les applications et les composants de la microscopie électronique à transmission (TEM), y compris les modes d'imagerie et les techniques avancées.

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