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Couvre la théorie et les formules de la diffraction, y compris la diffraction de Fresnel et de Fraunhofer, les théorèmes intégraux et les méthodes géométriques.
Explore les phénomènes de diffraction, les interférences et les limitations de résolution dans les processus d'imagerie dus aux interférences des ondes.
Explore les modes d'imagerie en TEM, couvrant les interactions électron-matière, les modèles de diffraction, la formation d'images, les principes de contraste et les configurations de détecteurs.
Couvre les bases des pinces optiques et leurs applications en microscopie, manipulation et spectroscopie, ainsi que l'alignement des molécules à l'aide d'impulsions laser.
Explore la diffraction de Fresnel, la diffraction de Fraunhofer, le principe de Babinet et la résolution optique du microscope, ainsi que la microscopie en champ proche et l'imagerie SNOM/NSOM.
Introduit des méthodes de solution directe pour un contrôle numérique optimal, en mettant l'accent sur la formulation des problèmes, la mise à l'échelle et des conseils pratiques pour une résolution réussie des problèmes.
Explique les grilles de différence finie pour calculer les solutions de membranes élastiques à l'aide de l'équation et des méthodes numériques de Laplace.
Explore la diffusion dynamique dans la diffraction électronique, en discutant des défis dans l'interprétation des modèles de diffraction et des applications dans l'imagerie des défauts cristallins et la discrimination de phase.
Couvre la source d'ions ALIS He et son application en microscopie à haute résolution, fournissant des détails de surface et un contraste de matériau remarquables.
Explore la diffraction de Fresnel et de Fraunhofer, les observations en champ proche et lointain, la mise au point des lentilles et la diffraction des rayons X par les cristaux.
