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MSE-636: Organic semiconductors

Séances de cours

Enseignant·e·s

Source officielle

https://edu.epfl.ch/coursebook/fr/organic-semiconductors-MSE-636

Page Moodle

http://go.epfl.ch/MSE-636

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Séances de ce cours (18)

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Introduit les bases de la microscopie électronique à balayage, couvrant les sources d'électrons, les lentilles, le système de vide et les détecteurs.

SEM Basics: Paramètres d'imagerie

Explore les bases du SEM, y compris les paramètres d'imagerie, la génération de signaux et les défis.

EBSD Basics: Applications et techniques

Couvre les bases de l'EBSD dans le SEM, y compris les mesures d'orientation, l'identification de phase et les applications en micro-cristallographie.

EBSD Basics: Applications et analyse de données Connectez-vous à Mediaspace pour regarder cette vidéo

Présente les bases EBSD, les applications, l'analyse des données et les aspects pratiques en science des matériaux.

SEM environnemental : Imagerie et analyse Connectez-vous à Mediaspace pour regarder cette vidéo

Explore la microscopie électronique à balayage environnemental (ESEM) pour l'imagerie de divers échantillons sans préparation, couvrant le balayage de faisceau d'électrons, la manipulation de pression, la diffusion d'électrons, l'analyse de rayons X et les transitions de phase.

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Ce cours d'introduction à la microscopie a pour but de donner un apperçu des différentes techniques d'analyse de la microstructure et de la composition des matériaux, en particulier celles liées aux microscopies électronique et optique. Le cours comprend d ...

PHYS-405: Experimental methods in physics

The course's objectivs are: Learning several advenced methods in experimental physics, and critical reading of experimental papers. ...

CH-410: Physical and chemical analyses of materials

The course relates on the use of electromagnetic (X-Ray) and corpuscular (electrons) radiations for physical and chemical analysis of solid materials. ...

PHYS-452: Radiation detection

The course presents the detection of ionizing radiation in the keV and MeV energy ranges. Physical processes of radiation/matter interaction are introduced. All steps of detection are covered, as well as detectors, instrumentations and measurements methods ...

CH-633: Advanced Solid State and Surface Characterization

State-of-the-art surface/thin film characterization methods of polycrystalline/nano/amorphous materials. Selected topics from thin film X-ray diffraction (GIWAXS, GISAXS, PDF), electronic and optical spectroscopy (XPS, AES, SERS, TERS), scanning probe and ...

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