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EBSD Basics: Applications et analyse de données

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Dans cours

MSE-636: Organic semiconductors

Description

Cette séance de cours couvre les bases de la diffraction de rétrodiffusion électronique (EBSD), y compris la préparation d'échantillons, l'acquisition de modèles EBSD, la transformée de Hough et les techniques d'analyse de données. Il explore les utilisations de l'EBSD pour les mesures d'orientation, l'identification de phase et les données microstructurales quantitatives dans divers matériaux. La séance de cours explore également l'influence de l'accélération de la tension, de la précision spatiale et angulaire et des applications de l'EBSD en cristallographie. Les aspects pratiques tels que l'indexation des PEMS, l'identification des phases et l'analyse des données avec des représentations d'orientation sont discutés en détail.

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Enseignant·e

Frank Nüesch

Enseignement et PhD Doctorant·es actuel·les Elodie Didier, Ceren Mitmit, João Pedro Ferreira Assunção, Vahid Charkhesht A dirigé les thèses EPFL de Hui Zhang, Simon Johannes Dünki, Yee Song Ko, Lei Wang, Sandra Christina Jenatsch, Nicolas Alexandre Serge Leclaire, Donatas Gesevicius, Surendra Babu Anantharaman, Markus Regnat, Philip Horst Caspari, Patrik Schürch, David Reber, Karen Verena Strassel, Sina Abdolhosseinzadeh, Matthias Diethelm, Francis Owusu, Camilla Arietta Vael-Garn, Yeerlan Adeli, Wei-Hsu

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Concepts associés (23)

Diffraction d'électrons rétrodiffusés

thumb|Cliché de diffraction obtenu par EBSD thumb|Cliché EBSD du silicium monocristallin, obtenu à 20 kV avec un canon à émission de champ right|thumb|Principe de l’EBSD La diffraction d'électrons rétrodiffusés (en anglais electron backscatter diffraction ou EBSD, ou encore backscatter Kikuchi diffraction ou BKD) est une technique cristallographique microstructurale permettant de mesurer l'orientation cristallographique de nombreux matériaux, qui peut être utilisée pour déterminer la texture ou l'orientation

Cristallographie aux rayons X

La cristallographie aux rayons X, radiocristallographie ou diffractométrie de rayons X (DRX, on utilise aussi souvent l'abréviation anglaise XRD pour X-ray diffraction) est une technique d'analyse fondée sur la diffraction des rayons X par la matière, particulièrement quand celle-ci est cristalline. La diffraction des rayons X est une diffusion élastique, c'est-à-dire sans perte d'énergie des photons (longueurs d'onde inchangées), qui donne lieu à des interférences d'autant plus marquées que la matière est ordonnée.

Cristallographie

La cristallographie est la science qui se consacre à l'étude des cristaux à l'échelle atomique. Les propriétés physico-chimiques d'un cristal sont étroitement liées à l'arrangement spatial des atomes dans la matière. L'état cristallin est défini par un caractère périodique et ordonné à l'échelle atomique ou moléculaire. Le cristal est obtenu par translation dans toutes les directions d'une unité de base appelée maille élémentaire.

Diffraction des électrons

La diffraction des électrons est une technique utilisée pour l'étude de la matière qui consiste à bombarder d'électrons un échantillon et à observer la figure de diffraction résultante. Ce phénomène se produit en raison de la dualité onde-particule, qui fait qu'une particule matérielle (dans le cas de l'électron incident) peut être décrite comme une onde. Ainsi, un électron peut être considéré comme une onde, comme pour le son ou les vagues à la surface de l'eau. Cette technique est similaire à la diffraction X et à la diffraction de neutrons.

Transition de phase

vignette|droite|Noms exclusifs des transitions de phase en thermodynamique. En physique, une transition de phase est la transformation physique d'un système d'une phase vers une autre, induite par la variation d'un paramètre de contrôle externe (température, champ magnétique...). Une telle transition se produit lorsque ce paramètre externe atteint une valeur seuil (ou valeur « critique »). La transformation traduit généralement un changement des propriétés de symétrie du système.

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Explore la microscopie électronique de transmission (TEM), couvrant les modèles de diffraction, la formation d'images et les mécanismes de contraste.

EBSD Basics: Applications et analyse de données

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Modes d'imagerie en TEM

Explore les modes d'imagerie en TEM, couvrant les interactions électron-matière, les modèles de diffraction, la formation d'images, les principes de contraste et les configurations de détecteurs.

Détermination de la structure cristalline par diffraction des électrons 3D

Explore la détermination de la structure cristalline en utilisant la diffraction électronique 3D et ses applications en nanocristallographie, mettant l'accent sur les défis et les progrès.

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