Séance de cours

Phase Contraste Fonction de transfert

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Dans cours

MSE-450: Electron microscopy: advanced methods

With this course, the student will learn about advanced methods in transmission electron microscopy, especially what is the electron optical setup involved in the acquisition, and how to interpret the data. After the course, students will be able to unders ...

Description

Cette séance de cours couvre la fonction de transfert de contraste de phase dans la microscopie électronique de transmission, expliquant comment elle est affectée par la déconcentration et l'aberration sphérique, et comment elle influence le processus d'imagerie. L'instructeur discute des expressions mathématiques impliquées et de l'impact des différents paramètres sur la qualité finale de l'image.

Dans MOOC

Microscopie électronique à transmission pour les sciences des matériaux

Ce cours propose une introduction complète à la microscopie électronique à transmission (MET) dans le domaine de la science des matériaux. Pour un instrument utilisé par un seul utilisateur, la MET moderne fournit une plate-forme analytique d'une polyvalence inégalée, donnant accès à des informations structurelles et chimiques de l'échelle du micromètre à celle du sub-angstrom. Dans un échantillon mince et transparent aux électrons, il est possible de mesurer la cristallinité, la structure, la taille et les

Enseignant·e·s (2)

Cécile Hébert

Cécile Hébert est née en France, en 1970. Elle a obtenu son diplôme d'ingénieure (option physique) puis son doctorat ("Etude d'un nouveau filtre d'énergie des électrons pour le microscope électronique à transmission") à l'Ecole centrale de Paris. Doctorante dans le laboratoire du professeur Jouffrey, elle a créé un nouveau filtre d'énergie des électrons, pour le microscope électronique à transmission, qui a été breveté par le CNRS. En tant que post-doctorante dans le laboratoire du professeur Schattschneider, elle a mené à bien une étude marquante sur la simulation des structures fines des seuils de perte d'énergie des électrons en comparaison avec l'expérience. En 2005, elle a été l'une des actrices principales dans l'élaboration du projet européen CHIRALTEM visant à développer dans le microscope électronique à transmission une méthode similaire à la méthode XMCD (X Ray Magnetic Circular Dichroism) connue en spectrométrie d'absorption des rayons X.

Duncan Thomas Lindsay Alexander

Duncan Alexander graduated with a PhD in Materials Science and Metallurgy at the University of Cambridge in 2003 for a thesis on the kinetics of metallurgical phase transformations under the direction of Lindsay Greer. From 2003 to 2007 he held a Royal Society Overseas Research Fellowship at the University of Sydney, and then post-doctoral positions at the University of Cambridge and Arizona State University, working first on materials electrochemistry with Carsten Schwandt and Derek Fray, and then the characterization of atmospheric aerosol particles with Peter Crozier and Jim Anderson. In 2007 he came to EPFL as a scientific collaborator in the group of László Forró, and from 2008 to 2017 he was a staff scientist at EPFL’s Interdisciplinary Centre for Electron Microscopy (CIME), specializing in the application of advanced transmission electron microscopy techniques and enabling electron microscopy research activities for groups across EPFL through teaching, training and support. In 2018 he joined the Electron Spectrometry and Microscopy Laboratory (LSME) as a full-time research scientist dedicated to advancing transmission electron microscopy techniques, and was promoted to the status of Research and Teaching Associate. In 2019, together with LSME director Cécile Hébert, he launched the first MOOC on transmission electron microscopy for materials science: https://www.coursera.org/learn/microscopy/For a complete list of peer-reviewed publications, see:https://orcid.org/0000-0003-4350-8587

Source officielle

Concepts associés (32)

Defocus aberration

In optics, defocus is the aberration in which an image is simply out of focus. This aberration is familiar to anyone who has used a camera, videocamera, microscope, telescope, or binoculars. Optically, defocus refers to a translation of the focus along the optical axis away from the detection surface. In general, defocus reduces the sharpness and contrast of the . What should be sharp, high-contrast edges in a scene become gradual transitions. Fine detail in the scene is blurred or even becomes invisible.

Spherical aberration

In optics, spherical aberration (SA) is a type of aberration found in optical systems that have elements with spherical surfaces. Lenses and curved mirrors are prime examples, because this shape is easier to manufacture. Light rays that strike a spherical surface off-centre are refracted or reflected more or less than those that strike close to the centre. This deviation reduces the quality of images produced by optical systems. The effect of spherical aberration was first identified by Ibn al-Haytham who discussed it in his work Kitāb al-Manāẓir.

Aberration (optique)

Une aberration est un défaut du système optique qui se répercute sur la qualité de l'image (flou, irisation ou déformation). Les aberrations sont définies par rapport à l'optique paraxiale et matérialisent le fait que certains rayons ne convergent pas vers l'image prédite par l'optique géométrique. Ainsi, la théorie des aberrations s'inscrit dans le cadre de l'optique géométrique et ne prend pas en compte les aspects ondulatoire ou corpusculaire de la lumière. Il est possible de classer les aberrations en deux groupes.

Phase-contrast imaging

Phase-contrast imaging is a method of that has a range of different applications. It measures differences in the refractive index of different materials to differentiate between structures under analysis. In conventional light microscopy, phase contrast can be employed to distinguish between structures of similar transparency, and to examine crystals on the basis of their double refraction. This has uses in biological, medical and geological science.

Microscope à contraste de phase

thumb|Photographie d'un cellule épithéliale de joue vue par un Microscope à contraste de phase Le microscope à contraste de phase est un microscope qui exploite les changements de phase d'une onde lumineuse traversant un échantillon. Cet instrument fut développé par le physicien hollandais Frederik Zernike dans les années 1930, ce qui lui valut le prix Nobel de physique en 1953. Emilie Bleeker, physicienne reconnue pour le développement d'instruments, est la première à mettre le microscope à contraste de phase en utilisation.

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Séances de cours associées (64)

TEM haute résolution : Imagerie et contraste

Explore les principes TEM haute résolution pour l'imagerie cristalline au niveau atomique.

Microscopie électronique à transmission : histoire et correction de l'aberration

Explore l'histoire de la microscopie électronique à transmission et les progrès des techniques de correction des aberrations, en discutant de divers contrastes dans l'imagerie TEM.

Correction d'aberration dans HRTEM

Explique les principes de HRTEM, y compris le transfert de contraste, les lentilles et la correction des aberrations.

HRTEM: Formation d'images

Explore la formation d'images HRTEM par l'interférence de faisceaux transmis et diffractés, couvrant la fonction de transfert de contraste, la correction des aberrations et les techniques de récupération de phase.

Composants de microscopie électronique

Couvre les composants du microscope électronique, les systèmes de vide, les aberrations, les détecteurs et les porte-échantillons.

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Defocus aberration

Spherical aberration

Aberration (optique)

Phase-contrast imaging

Microscope à contraste de phase

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