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Séance de cours

Interactions faisceau-matière

Dans cours

CH-410: Physical and chemical analyses of materials

The course relates on the use of electromagnetic (X-Ray) and corpuscular (electrons) radiations for physical and chemical analysis of solid materials. ...

Description

Cette séance de cours couvre les caractéristiques générales des interactions faisceau-matière, en se concentrant sur les faisceaux électromagnétiques et électroniques. Il traite des niveaux macroscopiques et microscopiques des interactions, des effets thermiques et chimiques, des déplacements atomiques et du transfert d'énergie linéaire. La séance de cours explore également les mécanismes d'émission de matière, y compris les émissions d'électrons de rayons X et d'Auger, et le fonctionnement des détecteurs solides à semi-conducteurs en microscopie électronique.

Enseignant·e

Christophe Roussel

Habilitation à Diriger les Recherches (HDR) in chemistry at the Ecole Normale Supérieure Paris-Saclay (Cachan, France)PhD Thesis in physical organic chemistry at the University of Bourgogne Franche-Comté (Besançon, France) / Ecole Normale Supérieure Paris-Saclay (Cachan, France)

Source officielle

Proximité ontologique

Chimie

Chimie physique: Spectroscopie

Concepts associés (32)

Microscopie électronique en transmission

vignette|upright=1.5|Principe de fonctionnement du microscope électronique en transmission. vignette|Un microscope électronique en transmission (1976). La microscopie électronique en transmission (MET, ou TEM pour l'anglais transmission electron microscopy) est une technique de microscopie où un faisceau d'électrons est « transmis » à travers un échantillon très mince. Les effets d'interaction entre les électrons et l'échantillon donnent naissance à une image, dont la résolution peut atteindre 0,08 nanomètre (voire ).

Auger electron spectroscopy

Auger electron spectroscopy (AES; pronounced oʒe in French) is a common analytical technique used specifically in the study of surfaces and, more generally, in the area of materials science. It is a form of electron spectroscopy that relies on the Auger effect, based on the analysis of energetic electrons emitted from an excited atom after a series of internal relaxation events. The Auger effect was discovered independently by both Lise Meitner and Pierre Auger in the 1920s.

Spectrométrie de fluorescence des rayons X

thumb|Analyseur portatif (Olympus Delta Professional XRF donnant la quantité de contaminants métalliques ou métalloïdes dans le sol. contaminants préoccupants recherchés sont ici le plomb, le mercure, le cadmium et l'arsenic. La spectrométrie de fluorescence des rayons X (SFX ou FX, ou en anglais XRF pour X-ray fluorescence) est une technique d'analyse chimique utilisant une propriété physique de la matière, la fluorescence de rayons X.

Spectroscopie des rayons X

La spectroscopie des rayons X rassemble plusieurs techniques de caractérisation spectroscopique de matériaux par excitation par rayons X. Trois familles de techniques sont le plus souvent utilisées. Selon les phénomènes mis en jeu, on distingue trois classes : L'analyse se fait par l'une des deux méthodes suivantes : analyse dispersive en énergie (Energy-dispersive x-ray analysis (EDXA) en anglais) ; analyse dispersive en longueur d'onde (Wavelength dispersive x-ray analysis (WDXA) en anglais).

Lithographie à faisceau d'électrons

L'utilisation d'un faisceau d'électrons pour tracer des motifs sur une surface est connue sous le nom de lithographie par faisceau d'électrons. On parle également de lithographie électronique. Par rapport à la photolithographie, l'avantage de cette technique est qu'elle permet de repousser les limites de la diffraction de la lumière et de dessiner des motifs avec une résolution pouvant aller jusqu'au nanomètre. Cette forme de lithographie a trouvé diverses formes d'application dans la recherche et l'industrie des semi-conducteurs et dans ce qu'il est convenu d'appeler les nanotechnologies.

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Séances de cours associées (32)

Interactions faisceau-matière: phénomènes d'émission

Explore les interactions faisceau-matière, en se concentrant sur les phénomènes d'émission de l'ionisation électronique du noyau par les rayons X et les électrons, et la concurrence entre Auger et les émissions de rayons X.

Microscopie électronique analytique: spectroscopie et microanalyse

Explore les techniques de microscopie électronique analytique pour l'analyse chimique à l'aide de EELS et EDX.

SEM Basics: Introduction à la microscopie électronique

Introduit les bases de la microscopie électronique à balayage, couvrant les sources d'électrons, les lentilles, le système de vide et les détecteurs.

Analyse chimique : spectrométrie de photoélectrons aux rayons X

Couvre la spectrométrie de photoélectrons à rayons X (XPS), une technique d'analyse de surface développée par Kai Siegbahn, expliquant ses composants, son mécanisme et ses méthodes d'analyse.

Analyses microscopiques et sources d'électrons

Couvre les analyses microscopiques utilisant la microscopie optique et électronique, ainsi que les sources d'électrons.

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Auger electron spectroscopy

Spectrométrie de fluorescence des rayons X

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