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Introduit des mesures SCOAP pour l'analyse de testabilité dans les systèmes VLSI, couvrant la contrôlabilité, l'observabilité et la prédiction de longueur de vecteur de test.
Fournit une vue d'ensemble de la technologie derrière les portes logiques, couvrant les familles TTL et CMOS et abordant les dangers statiques et dynamiques, les horloges fermées et le débouncing des commutateurs.
Explore la mise en œuvre de portes logiques dans le matériau semi-conducteur, en se concentrant sur les technologies TTL et CMOS, les circuits intégrés, les dangers, les horloges, les bascules D et le débouncing des commutateurs.
Introduit des circuits logiques séquentiels et des éléments de mémoire, en se concentrant sur leur rôle dans les systèmes numériques et les applications pratiques.
Couvre l'analyse temporelle des circuits synchrones, en se concentrant sur les bascules, les contraintes temporelles et les problèmes de métastabilité.
Couvre les éléments de mémoire dynamiques, les verrous, les bascules, les paramètres de synchronisation, le décalage d'horloge et la canalisation synchrone.
Couvre le modèle de transistor MOS Shockley, les grilles logiques CMOS, le fonctionnement du transistor, les paramètres de conception et les caractéristiques I-V.
Explore l'évolution et l'importance des technologies d'interconnexion dans la conception VLSI, en se concentrant sur les géométries de fil et la capacité.
Explore les fondamentaux de la logique dynamique, les dangers, les problèmes de partage de charge, les systèmes de pointage et diverses implémentations pour améliorer les performances.
Couvre les principes de la conception synchrone RTL, des circuits numériques personnalisés, de la visualisation des diagrammes Y, des classes de signaux et de la gestion de la hiérarchie.
