Explore les interactions faisceau-matière, en se concentrant sur les phénomènes d'émission de l'ionisation électronique du noyau par les rayons X et les électrons, et la concurrence entre Auger et les émissions de rayons X.
Couvre les principes fondamentaux et les applications de la microanalyse par rayons X à dispersion d'énergie, en expliquant son fonctionnement et ses défis.
Explore les interactions faisceau-matière, les effets thermiques, les effets chimiques, les déplacements atomiques et les mécanismes d'émission de matière en microscopie électronique.
Couvre les principes et les applications de la spectroscopie de rayons X à dispersion d'énergie (EDX) dans les méthodes d'analyse élémentaire et de quantification en SEM.
Discute des propriétés, de la sensibilité et du rapport signal-bruit des détecteurs de rayons X, ainsi que des erreurs systématiques comme les corrections de champ plat.
Couvre les principes de la microscopie électronique à balayage, y compris les signaux SEM, les détecteurs et le spectre d'énergie des électrons, ainsi que l'efficacité de la génération de rayons X.
Couvre la spectrométrie de photoélectrons à rayons X (XPS), une technique d'analyse de surface développée par Kai Siegbahn, expliquant ses composants, son mécanisme et ses méthodes d'analyse.
Explore les applications de la focalisation micron et submicron, de la cristallographie et des reconstructions tomographiques dans les lignes de faisceaux, ainsi que la nécessité d'optique secondaire et de différents types de lentilles.
Couvre la spectrométrie de fluorescence X (XRFS), une technique d'analyse chimique utilisant les rayons X émis lorsqu'il est excité par un faisceau primaire de rayons X.
Explore la caractérisation de la microstructure par la microscopie électronique à balayage, couvrant les interactions, l'étude de morphologie, l'analyse EDX et la distribution de phase.
Couvre la micro-analyse aux rayons X (XRMA) comparant les techniques d'analyse de la matière avec des faisceaux d'électrons, discutant du volume d'interaction, de l'émission, de la fluorescence et des effets matriciels.
Couvre les techniques d'imagerie magnétique par rayons X, y compris les techniques XMCD, XRMS et l'optique par rayons X, pour l'étude des matériaux et domaines magnétiques.
Explore les principes et les applications de la microscopie électronique à balayage en micro et nanofabrication, couvrant les signaux électroniques, les problèmes de charge et les mesures dimensionnelles.
Explore le développement historique et les applications industrielles de la radiographie et de la tomographie informatisée avec rayons X, gamma et neutrons.
Couvre la microanalyse par rayons X à dispersion d'énergie, expliquant comment les rayons X révèlent la composition élémentaire et discutant de la génération, de la détection, de l'efficacité et de la quantification des rayons X.
