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Caractérisation de la microstructure par SEM

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Description

Cette séance de cours porte sur les principes de la caractérisation de la microstructure par la microscopie électronique à balayage (SEM), expliquant comment fonctionne la SEM, les interactions entre les électrons et la matière, et la génération d'électrons rétrodispersés, d'électrons secondaires et de rayons X caractéristiques. Il traite également de l'étude morphologique des matières premières, de l'étude des échantillons de section polie, du réglage d'une bonne image au microscope électronique et de la microstructure des échantillons hydratés. De plus, il se penche sur l'analyse EDX, la composition C(-A)-S-H et la cartographie EDX pour la distribution de phase et la caractérisation des dommages dans les matériaux cimentaires.

Dans MOOC

Chimie du ciment et matériaux cimentaires durables

Nous connaissons tous le béton utilisé pour construire nos maisons, nos bureaux, nos écoles ou nos ponts, mais savez-vous pourquoi le béton résiste ? L'objectif de ce cours est d'offrir des connaissances solides sur la chimie du ciment aux praticiens ou aux nouveaux étudiants dans ce domaine. Il n'est donc pas nécessaire d'avoir des connaissances en matière de ciment, mais des notions de base en chimie, physique et cristallographie peuvent être utiles. Ce cours dure 6 semaines pendant lesquelles vous pouv

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Microscopie électronique à balayage

thumb|right|Premier microscope électronique à balayage par M von Ardenne thumb|right|Microscope électronique à balayage JEOL JSM-6340F thumb|upright=1.5|Principe de fonctionnement du Microscope Électronique à Balayage La microscopie électronique à balayage (MEB) ou scanning electron microscope (SEM) en anglais est une technique de microscopie électronique capable de produire des images en haute résolution de la surface d’un échantillon en utilisant le principe des interactions électrons-matière.

Microscope électronique

thumb|Microscope électronique construit par Ernst Ruska en 1933.thumb|Collection de microscopes électroniques anciens (National Museum of Health & Medicine). Un microscope électronique (ME) est un type de microscope qui utilise un faisceau d'électrons pour illuminer un échantillon et en créer une très agrandie. Il est inventé en 1931 par des ingénieurs allemands. Les microscopes électroniques ont un pouvoir de résolution supérieur aux microscopes optiques qui utilisent des rayonnements électromagnétiques visibles.

École polytechnique (France)

L'École polytechnique, couramment appelée Polytechnique et surnommée en France l'« X », est l'une des françaises accréditées au à délivrer un diplôme d'ingénieur. Elle constitue l'une des sept grandes écoles militaires françaises. Elle est fondée en 1794 par la Convention nationale sous le nom d'École centrale des travaux publics et militarisée en 1804 par Napoléon . À l'origine située à Paris, l'école est à Palaiseau (Essonne) depuis 1976, au cœur du pôle technologique Paris-Saclay.

Spectrométrie de fluorescence des rayons X

thumb|Analyseur portatif (Olympus Delta Professional XRF donnant la quantité de contaminants métalliques ou métalloïdes dans le sol. contaminants préoccupants recherchés sont ici le plomb, le mercure, le cadmium et l'arsenic. La spectrométrie de fluorescence des rayons X (SFX ou FX, ou en anglais XRF pour X-ray fluorescence) est une technique d'analyse chimique utilisant une propriété physique de la matière, la fluorescence de rayons X.

Microscopie électronique en transmission

vignette|upright=1.5|Principe de fonctionnement du microscope électronique en transmission. vignette|Un microscope électronique en transmission (1976). La microscopie électronique en transmission (MET, ou TEM pour l'anglais transmission electron microscopy) est une technique de microscopie où un faisceau d'électrons est « transmis » à travers un échantillon très mince. Les effets d'interaction entre les électrons et l'échantillon donnent naissance à une image, dont la résolution peut atteindre 0,08 nanomètre (voire ).

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Microscopie électronique de balayage : Fondamentaux et applications

Couvre les bases de la microscopie électronique à balayage, y compris l'interaction de la matière électronique, les techniques d'imagerie et les sujets avancés connexes.

NMF guidé par la physique pour l'analyse des données STEM/EDXS

Explore NMF guidé par la physique pour l'analyse de données STEM/EDXS, couvrant les défis, l'optimisation, les contraintes et les avantages de la modélisation.

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