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Couvre l'évaluation de la qualité des couches de sondes à l'aide du miroir résonnant, de la résonance de Plasmon de surface et de la microscopie électronique à balayage.
Explore les composants et le fonctionnement d'un microscope électronique à transmission (TEM), y compris les systèmes de vide, les sources d'électrons, les lentilles, les aberrations et les détecteurs.
Explore les techniques de microscopie 3D et de tomographie, y compris la tomographie par sonde atomique et la microscopie par émission sur le terrain, en mettant l'accent sur les principes et les applications de la tomographie électronique.
Couvre les bases de la microscopie électronique à balayage, y compris les interactions électron-échantillon, les détecteurs, la préparation des échantillons, la formation d'images, la résolution et les contrastes dans les images SEM.
Explore l'histoire de la microscopie électronique à transmission et les progrès des techniques de correction des aberrations, en discutant de divers contrastes dans l'imagerie TEM.
Explore les principes et les applications de la technologie Focused Ion Beam, y compris les interactions ion-solide, le broyage ionique et la nanofabrication.
Explore la microscopie électronique de transmission de Lorentz in-situ et ultra-rapide, couvrant l'imagerie dynamique, les atomes d'observation, les charges, les spins, la dynamique du réseau, les skyrmions magnétiques et le contrôle cohérent à l'aide d'impulsions laser.
Couvre les principes de la microscopie électronique à balayage, y compris les signaux SEM, les détecteurs et le spectre d'énergie des électrons, ainsi que l'efficacité de la génération de rayons X.
Explore la ptychographie pour l'imagerie des atomes et des champs à l'échelle du picomètre, couvrant les limites de résolution, la section de profondeur, la microscopie de Lorentz et les progrès des détecteurs.
Couvre la source d'ions ALIS He et son application en microscopie à haute résolution, fournissant des détails de surface et un contraste de matériau remarquables.
Explore la caractérisation de la microstructure par la microscopie électronique à balayage, couvrant les interactions, l'étude de morphologie, l'analyse EDX et la distribution de phase.
Couvre les techniques de microscopie électronique, les composants et les applications, y compris le développement historique, la correction des aberrations de la lentille et l'interaction des électrons avec la matière.
Explore l'ingénierie de la fonction d'onde, le contrôle de la cohérence, les phénomènes de speckle, la microscopie, la dynamique et les résonances plasmatiques.
