Publication

Progress in understanding VUV photoemission in low-dimensionality systems

Giorgio Margaritondo, Helmuth Berger
1996
Journal Articles

Résumé

High-resolution angle-resolved photoemission and core-level photoemission measurements were performed on single crystal samples of the quasi-one-dimensional material (TaSe4)(2)I and the cuprate superconductor Bi2Sr2CaCu2O8+x. Resistivity measurements were performed on both materials. X-ray diffraction, transmission electron microscopy (TEM), and AC susceptibility measurements were performed on the cuprate samples. The data indicate that photoemission studies provide key information in understanding the physics issues of both materials.

Source officielle

https://infoscience.epfl.ch/entities/publication/ff2528ef-7fd1-4a5d-931a-30152af50863

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Concepts associés (32)

Spectroscopie photoélectronique

La spectroscopie photoélectronique (photoelectron spectroscopy, PES) ou spectroscopie de photoémission (photoemission spectroscopy) est un ensemble de méthodes spectroscopiques basées sur la détection d'électrons émis par des molécules après le bombardement de celle-ci par une onde électromagnétique monochromatique. Cette spectroscopie fait partie des méthodes de spectroscopie électronique. Elle est utilisée pour mesurer l'énergie de liaison des électrons dans la matière, c'est-à-dire à sonder les états occupés.

Spectrométrie photoélectronique X

vignette|upright=1.4|Machine XPS avec un analyseur de masse (A), des lentilles électromagnétiques (B), une chambre d'ultra-vide (C), une source de rayon X (D) et une pompe à vide (E) La spectrométrie photoélectronique X, ou spectrométrie de photoélectrons induits par rayons X (en anglais, X-Ray photoelectron spectrometry : XPS) est une méthode de spectrométrie photoélectronique qui implique la mesure des spectres de photoélectrons induits par des photons de rayon X.

Microscopie électronique en transmission

vignette|upright=1.5|Principe de fonctionnement du microscope électronique en transmission. vignette|Un microscope électronique en transmission (1976). La microscopie électronique en transmission (MET, ou TEM pour l'anglais transmission electron microscopy) est une technique de microscopie où un faisceau d'électrons est « transmis » à travers un échantillon très mince. Les effets d'interaction entre les électrons et l'échantillon donnent naissance à une image, dont la résolution peut atteindre 0,08 nanomètre (voire ).

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