Publication

Chemical contrast observed at a III-V heterostructure by scanning near-field optical microscopy

Giorgio Margaritondo
1999
Journal Articles

Résumé

We observed chemical contrast with subwavelength resolution on a III-V heterostructure by a scanning near-field optical microscope (SNOM) working in the external reflection mode and coupled with a Free Electron Laser (FEL). SNOM reflectivity images revealed features that were not present in the corresponding shear-force (topology) images and are due to localized lateral changes in the optical properties of the sample. The data indicate an optical spatial resolution well below the diffraction limit of lambda/2 with most optical images having better lateral resolution than topographic images.

Source officielle

https://infoscience.epfl.ch/entities/publication/2f9291e3-ec6f-42ec-a117-dcf94b55c0ae

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