Séance de cours

XRR et SAXS : Caractérisation avancée

Graph Chat

Chattez avec Graph Search

Posez n’importe quelle question sur les cours, conférences, exercices, recherches, actualités, etc. de l’EPFL ou essayez les exemples de questions ci-dessous.

AVERTISSEMENT : Le chatbot Graph n'est pas programmé pour fournir des réponses explicites ou catégoriques à vos questions. Il transforme plutôt vos questions en demandes API qui sont distribuées aux différents services informatiques officiellement administrés par l'EPFL. Son but est uniquement de collecter et de recommander des références pertinentes à des contenus que vous pouvez explorer pour vous aider à répondre à vos questions.

Dans cours

CH-633: Advanced Solid State and Surface Characterization

State-of-the-art surface/thin film characterization methods of polycrystalline/nano/amorphous materials. Selected topics from thin film X-ray diffraction (GIWAXS, GISAXS, PDF), electronic and optical spectroscopy (XPS, AES, SERS, TERS), scanning probe and ...

Description

Cette séance de cours couvre la réflectivité des rayons X (XRR) et les techniques de diffusion des rayons X à petit angle (SAXS) pour analyser les films cristallins et amorphes. XRR mesure l'interférence des ondes réfléchies pour déterminer l'épaisseur de la couche, la densité du matériau et la rugosité de la surface. SAXS sonde la taille, la forme et les nanostructures des particules. L'instructeur explique les principes, les configurations de mesure, et les applications de XRR et de SAXS en caractérisant des matériaux à l'échelle nanométrique.

Enseignant·e·s (3)

Mounir Driss Mensi

Enseignement et PhD Cours Advanced Solid State and Surface Characterization CH-633 Characterization of Materials 2025 MSE-716

Emad Oveisi

Dr Emad Oveisi is a senior scientist at the Interdisciplinary Centre for Electron Microscopy (CIME), EPFL. Emad received a BSc in Metallurgy and Materials Engineering (2005) and an MSc in Materials Science (2008) both from the University of Tehran (Iran). He graduated with a PhD in Materials Science and Engineering at EPFL in 2014 for a thesis on the "Three-Dimensional STEM Imaging of Dislocations" under the direction of Prof. Cécile Hébert. The PhD thesis at the Electron Spectrometry and Microscopy Laboratory (LSME), served as an introduction to many of the advanced microscopy techniques that have proven to be a platform for his research career. A post-doctoral research at the centre for electron microscopy gave him the opportunity to peruse a cutting-edge research on one of the most modern aberration-corrected transmission electron microscopes.Since the inauguration of the Energypolis campus of EPFL in Sion, he has been the manager and reference scientist of the electron microscopy platform of EPFL-Valais, working with 9 research groups and more than 200 researchers. In addition to this core responsibility, he provides advanced microscopy consulting and service to EPFL scientists and assist their research to the highest level possible. Emad Oveisi’s research focuses on the application and development of novel electron microscopy techniques, with emphasis on 3D imaging of crystal defects, as well as the precision measurement of materials properties using aberration-corrected S/TEM. In 2018, he received the prestigious Microscopy Innovation Award for inventing “Single-shot three-dimensional electron imaging”, a novel technique that enables 3D imaging of in situ dynamics. In 2016 Emad was elected as an interim representative for the scientific staff ("corps intermédiaire") to the Council of the Institute of Chemistry (ISIC). Since 2019, he is a member of EPFL Teachers’ Council (CCE) and has been elected as one of its four bureau members. This role allows him to be exposed to new ideas and pedagogical challenges, as well being involved in discussions with the Vice Presidency of Education (VPE) and other teaching organisations for defining teaching strategies at the EPFL.

Pascal Alexander Schouwink

Enseignement et PhD Cours Advanced Solid State and Surface Characterization CH-633 Principles and Applications of X-ray Diffraction CH-632

Source officielle

Concepts associés (32)

Particule matérielle

Le terme « particule matérielle » (material particle en anglais) désigne une petite portion d'un corps, de matière solide ou fluide, constituée d'un nombre suffisamment grand de particules élémentaires. La matière est pleine de vide. Un corps de matière solide ou fluide est un domaine discontinu de particules composites (protons, neutrons), elles-mêmes composées de particules élémentaires. Les dimensions des particules élémentaires sont très petites devant les distances qui les séparent.

Nanotechnologie

Les nanosciences et nanotechnologies (d’après le grec , « nain »), ou NST, peuvent être définies au minimum comme l’ensemble des études et des procédés de fabrication et de manipulation de structures (physiques, chimiques ou biologiques), de dispositifs et de systèmes matériels à l’échelle du nanomètre (nm), qui est l'unité la plus proche de la distance entre deux atomes. Les NST présentent plusieurs acceptions liées à la nature transversale de cette jeune discipline.

Particule ponctuelle

Une particule ponctuelle (particule idéale ou particule quasi-ponctuelle) est un objet idéalisé très utilisé en physique. Une des caractéristiques principales d'une particule ponctuelle est qu'il lui manque l'extension spatiale : de dimension zéro, elle n'occupe aucun volume. C'est une représentation appropriée de tout objet dont la définition de la taille, de la forme et de la structure n'est pas pertinente dans un contexte donné. Par exemple, si l'observateur se place suffisamment loin, un objet de forme quelconque ressemblera et se comportera comme un objet ponctuel.

Matière amorphe

Un matériau amorphe est une substance dans laquelle les atomes ne respectent aucun ordre à moyenne et grande distance (comparée au diamètre moléculaire), ce qui la distingue des composés cristallisés. La condition sur la distance est importante car la structure des matériaux amorphes présente très souvent un ordre à courte distance (quelques diamètres moléculaires). Les verres, les élastomères et les liquides sont des substances amorphes. En géosciences, le terme générique de minéraloïde est utilisé pour désigner la classe de ces matériaux non-cristallins.

Nanostructure

Une nanostructure est un assemblage d'atomes ou de molécules dont au moins une dimension est comprise entre 0,1 et 100 nanomètres. En pratique, on tolère un certain débordement dans ces limites. Ainsi, un nanofil est une nanostructure dont le diamètre est compris entre 0,1 à 100 nanomètres. Les nanostructures se retrouvent dans la nature et sont étudiées par les nanotechnologies du microscope jusqu'aux visualisations avancées des protéines (une protéine peut faire un nanomètre de diamètre).

Afficher plus

Séances de cours associées (64)

Bandgap amorphe

Couvre les propriétés et la structure atomique des matériaux amorphes, ainsi que leurs propriétés optiques et les lacunes d'énergie.

Structures cristallines : Indices de Miller et Arrangement d'atomes

Explore les structures cristallines, les indices Miller, la diffraction des rayons X et les microstructures solides.

Matériaux amorphes

Couvre les matériaux amorphes, se concentrant sur le verre, les types communs, la structure atomique, et l'effet de l'hydrogène.

Technologies du film mince

Explore les technologies à couches minces pour les dispositifs photovoltaïques, y compris les cellules solaires CdTe, CIGS et III-V, en discutant de leurs avantages, de leurs inconvénients et de leur statut sur le marché.

Absorption cristalline de silicium

Explore les propriétés des absorbeurs de silicium cristallin dans les cellules solaires, en discutant des coefficients d'absorption, des effets de dispersion et des mécanismes d'absorption dans les semi-conducteurs.

Afficher plus

Concepts associés (32)