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Séance de cours

Techniques d'imagerie nanomagnétique

Dans cours

MSE-670: Advanced Microscopy for Magnetic Materials

Theoretical and practical expertise is gained about the microscopy of spin structures and magnetic configuiations down to the sub-nm length and sub-ns time scales such as transmission electron microscopy, x-ray and light scattering, magnetic dichroism, and ...

Description

Cette séance de cours couvre les techniques avancées d'imagerie nanomagnétique telles que l'imagerie magnéto-optique, la microscopie de Lorentz, la microscopie SQUID et la microscopie par sonde à balayage pour étudier des phénomènes tels que les cristaux de skyrmion, les courants de bord, les matériaux 2D et les états corrélés dans les matériaux à couche atomique.

Enseignant·e·s (4)

Thomas La Grange

Phoebe Marie Tengdin

Fabrizio Carbone

Birth 20/04/1976 Master degree: University of Pavia "optoelectronic engineering". September 2001. Reasearch scientist at Pirelli Labs, Milan Italy between September 2000 and August 2002. PhD in condensed matter physics from the University of Geneva, prof. van der Marel gorup. January 2007 Post doc in physical chemistry at Caltech in prof. Zewail`s group. March 2007-April 2009

Dirk Grundler

Source officielle

Concepts associés (32)

Microscopie à sonde locale

La microscopie à sonde locale (MSL) ou microscopie en champ proche (MCP) ou scanning probe microscopy (SPM) en anglais est une technique de microscopie permettant de cartographier le relief (nano-topographie) ou une autre grandeur physique en balayant la surface à imager à l'aide d'une pointe très fine (la pointe est idéalement un cône se terminant par un seul atome). Le pouvoir de résolution obtenu par cette technique permet d'observer jusqu'à des atomes, ce qui est physiquement impossible avec un microscope optique, quel que soit son grossissement.

Microscope à force atomique

thumb|350px|Le premier microscope à force atomique du monde, au musée de la Science de Londres. Le microscope à force atomique (AFM pour atomic force microscope) est un type de microscope à sonde locale permettant de visualiser la topographie de la surface d'un échantillon. Inventé en 1985, par Gerd Binnig, Calvin Quate et Christoph Gerber, ce type de microscopie repose essentiellement sur l'analyse d'un objet point par point au moyen d'un balayage via une sonde locale, assimilable à une pointe effilée.

Bruit de mesure

En métrologie, le bruit de mesure est l'ensemble des signaux parasites qui se superposent au signal que l'on cherche à obtenir au moyen d'une mesure d'un phénomène physique. Ces signaux sont une gêne pour la compréhension de l'information que le signal transporte. La métrologie vise donc notamment à connaître leurs origines et à les caractériser, afin de les éliminer et d'obtenir le signal d'origine aussi distinctement que possible. La source du bruit d'origine externe est externe au système physique générant le signal utile et agit par influence sur celui-ci.

Débruitage

Le débruitage est une technique d'édition qui consiste à supprimer des éléments indésirables (« bruit »), afin de rendre un document, un signal (numérique ou analogique) ou un environnement plus intelligible ou plus pur. Ne pas confondre le débruitage avec la réduction de bruit. Sur le plan sonore, le débruitage consiste à réduire ou anéantir le rendu d'ondes sonores « parasites » (ou « bruit »).

Bruit de grenaille

vignette|Illustration d'un bruit d'émission de photons : le nombre moyen de photons par pixel augmente, de gauche à droite et de haut en bas, dans une simulation d'un processus de Poisson à partir d'une photo. Un bruit de grenaille, bruit de Schottky ou bruit quantique (en anglais, shot noise) est un bruit de fond qui peut être modélisé par un processus de Poisson. En électronique, il est causé par le fait que le courant électrique n'est pas continu mais constitué de porteurs de charge élémentaires (en général des électrons).

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