Séance de cours

Conception pour la testabilité: techniques et méthodes

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Dans cours

EE-530: Test of VLSI systems

Test of VLSI Systems covers theoretical knowledge related to the major algorithms used in VLSI test, and design for test techniques. Basic knowledge related to computer-aided design for test techniques, and their integration into a design-flow are presente ...

Description

Cette séance de cours couvre l'importance de la conception pour la testabilité (DFT) dans les systèmes VLSI, en mettant l'accent sur les techniques pour détecter les défauts, réduire la complexité des tests et améliorer l'accès aux tests. Il traite des méthodes DFT ad hoc, des approches DFT structurées, de la conception de numérisation, des modes de fonctionnement de numérisation et des procédures de mise en page de numérisation. La présentation comprend également des informations sur plusieurs techniques d'analyse et d'analyse partielle, ainsi que sur l'évolution des méthodes de test, passant du lit traditionnel d'ongles aux normes JTAG modernes.

Enseignant·e

Alexandre Schmid

Enseignement et PhD A dirigé les thèses EPFL de Mahsa Shoaran, Wen-Yang Hsu, Reza Ranjandish, Keyvan Farhang Razi, Mohammad Javad Karimi A co-dirigé les thèses EPFL de Milos Stanisavljevic, Neil Joye, Vahid Majidzadeh Bafar, Hossein Afshari, Nikola Katic, Abdulkadir Akin Cours Analog circuits for biochip EE-518 Introduction à la conception analogique CMOS pour des biocapteurs à distance sur puce. Compréhension et la conception de systèmes de biocapteurs actifs et alimentés à distance. Compré

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Concepts associés (32)

Boundary scan

Boundary scan is a method for testing interconnects (wire lines) on printed circuit boards or sub-blocks inside an integrated circuit. Boundary scan is also widely used as a debugging method to watch integrated circuit pin states, measure voltage, or analyze sub-blocks inside an integrated circuit. The Joint Test Action Group (JTAG) developed a specification for boundary scan testing that was standardized in 1990 as the IEEE Std. 1149.1-1990.

Joint Test Action Group

Le JTAG (pour Joint Test Action Group) est le nom de la norme IEEE 1149.1 intitulée « Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture », qui été normalisée en 1990. Le terme JTAG, désignant le groupe de travail qui a conçu la norme, est abusivement (mais très largement) utilisé au lieu du terme générique Boundary Scan, ou du sigle TAP (Test Access Port, port d'accès de test). La technique de boundary scan (littéralement, « scrutation des frontières ») est conçue pour faciliter et automatiser le test des cartes électroniques numériques.

Tomodensitométrie

La tomodensitométrie (TDM), dite aussi scanographie, tomographie axiale calculée par ordinateur (TACO), CT-scan (CT : computed tomography), CAT-scan (CAT : computer-assisted tomography), ou simplement scanner ou scanneur pour l'appareil, est une technique d' qui consiste à mesurer l'absorption des rayons X par les tissus puis, par traitement informatique, à numériser et enfin reconstruire des images 2D ou 3D des structures anatomiques.

Fourier analysis

In mathematics, Fourier analysis (ˈfʊrieɪ,_-iər) is the study of the way general functions may be represented or approximated by sums of simpler trigonometric functions. Fourier analysis grew from the study of Fourier series, and is named after Joseph Fourier, who showed that representing a function as a sum of trigonometric functions greatly simplifies the study of heat transfer. The subject of Fourier analysis encompasses a vast spectrum of mathematics.

Test driven development

Test-Driven Development (TDD), ou développement piloté par les tests en français, est une méthode de développement de logiciel qui consiste à concevoir un logiciel par des itérations successives très courtes (ou petits pas), telles que chaque itération est accomplie en formulant un sous-problème à résoudre sous forme d'un test avant d'écrire le code source correspondant, et où le code est continuellement remanié dans une volonté de simplification. À l'origine, il s'agissait simplement d'écrire les tests avant de coder, et cette méthode s'appelait le Test-First Design.

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Conception pour la testabilité: Techniques et matériel

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Subquadratic Attention Mechanisms: State Space Models Vue d'ensemble

Couvre les mécanismes d'attention subquadratiques et les modèles d'espace d'état, en se concentrant sur leurs fondements théoriques et leurs implémentations pratiques dans l'apprentissage automatique.

Surajustement: symptômes et caractéristiques

Explore le surajustement dans la régression polynomiale, en soulignant l'importance de la généralisation dans l'apprentissage automatique et les statistiques.

La transformation Quantum Fourier

Couvre le Quantum Fourier Transform et son application dans le calcul quantique, expliquant le processus de calcul des valeurs d'entrée et le concept de nombres complexes.

La transformation rapide de Fourier

Explore l'histoire et l'efficacité de l'algorithme de transformation rapide de Fourier, démontrant ses applications pratiques et ses avantages informatiques.

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Concepts associés (32)

Boundary scan

Joint Test Action Group

Tomodensitométrie

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