Design for testingDesign for testing or design for testability (DFT) consists of IC design techniques that add testability features to a hardware product design. The added features make it easier to develop and apply manufacturing tests to the designed hardware. The purpose of manufacturing tests is to validate that the product hardware contains no manufacturing defects that could adversely affect the product's correct functioning. Tests are applied at several steps in the hardware manufacturing flow and, for certain products, may also be used for hardware maintenance in the customer's environment.
Logique séquentielleEn théorie des circuits électroniques, la logique séquentielle est un type de logique dont les résultats ne dépendent pas seulement des données actuellement traitées mais aussi des données traitées précédemment. Elle s'oppose à la logique combinatoire, dont les résultats sont fonction et seulement fonction des données actuellement traitées. En d'autres termes, la logique séquentielle utilise la notion de mémoire de stockage (Bascules, registres, etc.) alors que la logique combinatoire n'en a pas.
Test (informatique)vignette|Une programmeuse écrivant du code Java avec JUnit. En informatique, un test désigne une procédure de vérification partielle d'un système. Son objectif principal est d'identifier un nombre maximal de comportements problématiques du logiciel. Il permet ainsi, dès lors que les problèmes identifiés seront corrigés, d'en augmenter la qualité. D'une manière plus générale, le test désigne toutes les activités qui consistent à rechercher des informations quant à la qualité du système afin de permettre la prise de décisions.
Test de validationUn test de validation est un type de test informatique qui permet de vérifier si toutes les exigences client, décrites dans le document de spécification du logiciel, sont respectées. Les tests de validation se décomposent généralement en plusieurs phases : Validation fonctionnelle : les tests fonctionnels assurent que les différents modules ou composants implémentent correctement les exigences client. Ces tests peuvent être de type valide, invalide, inopportuns, etc.
Générateur de signauxLe générateur de signaux fait partie d'une classe d'appareils électroniques générant des signaux électroniques possédant des propriétés définies d'amplitude, de fréquence et de forme d'onde. Ces signaux générés sont utilisés comme stimulus pour des mesures électroniques, mesures généralement employées dans la conception, le test, le dépannage et la réparation d'appareils électroniques ou électroacoustiques. On trouve même à ces signaux des utilisations artistiques.
Tests systèmeLes tests système de logiciel ou de matériel réfèrent à un processus de test d'un système intégré afin d'évaluer sa conformité aux exigences spécifiées. Les tests système appartiennent à la classe des tests de type boîte noire, et en tant que tels, ne devraient exiger aucune connaissance de la conception interne du code ou de la logique. En règle générale, les tests système prennent comme entrée tous les composants logiciels « intégrés » (ayant réussi les tests d'intégration) mais aussi le système logiciel lui-même intégré à n'importe quel système matériel compatible.
Test de régressionUn test de régression, ou test de non-régression, est un test ayant pour but de détecter les régressions introduites dans un logiciel après un changement effectué dans celui-ci. Une régression est un défaut qui se produit après une modification d'un logiciel lorsque des fonctionnalités existantes ne sont plus réalisées aussi bien qu'avant.
Test d'intégrationDans le monde du développement informatique, L'objectif de chaque phase de test est de détecter les erreurs qui n'ont pas pu être détectées lors de la précédente phase. Pour cela, le test d’intégration a pour cible de détecter les erreurs non détectables par le test unitaire. Le test d’intégration permet également de vérifier l'aspect fonctionnel, les performances et la fiabilité du logiciel. L'intégration fait appel en général à un système de gestion de versions, et éventuellement à des programmes d'installation.
Circuit asynchronethumb|upright=1.2|Principe du pipeline synchrone, en haut, où les données avancent au rythme de l'horloge, et du pipeline asynchrone, en bas, où les étages communiquent localement. Un circuit asynchrone est un circuit électronique numérique qui n'utilise pas de signal d'horloge global pour synchroniser ses différents éléments. À la place, ces derniers communiquent souvent localement en indiquant l'envoi et la réception de données. On parle parfois de « circuit auto-séquencé ».
Combinational logicIn automata theory, combinational logic (also referred to as time-independent logic or combinatorial logic ) is a type of digital logic which is implemented by Boolean circuits, where the output is a pure function of the present input only. This is in contrast to sequential logic, in which the output depends not only on the present input but also on the history of the input. In other words, sequential logic has memory while combinational logic does not.
Circuit synchroneUn circuit synchrone est un circuit électronique numérique qui fonctionne à un rythme dicté par une horloge. Cette horloge interne au processeur donne à intervalles réguliers une impulsion électrique simultanée (en première approximation) à tous les composants du processeur. Sa fréquence peut atteindre quelques gigahertz (GHz) pour des processeurs récents. Les ordinateurs personnels usuels sont munis de processeurs synchrones.
API testingAPI testing is a type of software testing that involves testing application programming interfaces (APIs) directly and as part of integration testing to determine if they meet expectations for functionality, reliability, performance, and security. Since APIs lack a GUI, API testing is performed at the message layer. API testing is now considered critical for automating testing because APIs now serve as the primary interface to application logic and because GUI tests are difficult to maintain with the short release cycles and frequent changes commonly used with Agile software development and DevOps.
Arbitrary waveform generatorAn arbitrary waveform generator (AWG) is a piece of electronic test equipment used to generate electrical waveforms. These waveforms can be either repetitive or single-shot (once only) in which case some kind of triggering source is required (internal or external). The resulting waveforms can be injected into a device under test and analyzed as they progress through it, confirming the proper operation of the device or pinpointing a fault in it. Unlike function generators, AWGs can generate any arbitrarily defined waveshape as their output.
Circuit booléenvignette|Exemple circuit booléen à deux entrées et une sortie. Le circuit contient 3 portes logique. En théorie de la complexité, un circuit booléen est un modèle de calcul constitué de portes logiques (fonctions logiques) reliées entre elles. C'est une façon de représenter une fonction booléenne. Un circuit booléen peut être utilisé pour reconnaître un langage formel, c'est-à-dire décider si un mot appartient ou non à un langage particulier. Les caractéristiques des circuits qui reconnaissent un langage permettent de définir (ou redéfinir) des classes de complexité.
Boundary scanBoundary scan is a method for testing interconnects (wire lines) on printed circuit boards or sub-blocks inside an integrated circuit. Boundary scan is also widely used as a debugging method to watch integrated circuit pin states, measure voltage, or analyze sub-blocks inside an integrated circuit. The Joint Test Action Group (JTAG) developed a specification for boundary scan testing that was standardized in 1990 as the IEEE Std. 1149.1-1990.
Électronique numériqueL'électronique numérique concerne le système ou la technologie appliquée dont les caractéristiques sont exprimées par des valeurs de nombres, en anglais digital signifiant « chiffre ». La meilleure fiabilité lors de la transmission des signaux numérisés procure en principe, un contrôle de bout en bout de la chaîne des signaux. Le mode numérique permet de s'affranchir le plus souvent du bruit de fond, des parasites et autres artefacts lors de la transmission et améliore notamment le rapport signal sur bruit.
Switching circuit theorySwitching circuit theory is the mathematical study of the properties of networks of idealized switches. Such networks may be strictly combinational logic, in which their output state is only a function of the present state of their inputs; or may also contain sequential elements, where the present state depends on the present state and past states; in that sense, sequential circuits are said to include "memory" of past states. An important class of sequential circuits are state machines.
Générateur de basses fréquencesvignette|droite|oscilloscope et générateur de basses fréquences Un générateur de basses fréquences (GBF), encore appelé générateur de fonctions, est un appareil utilisé dans le domaine de l'électronique à des fins de test ou de dépannage de matériels électroniques. Il permet de délivrer un signal avec la fréquence désirée sous forme de sinusoïdes, de créneaux, ou de triangles. Ce signal peut être observé grâce à un oscilloscope. De nombreux paramètres de réglage permettent de modifier la forme du signal.
Conception assistée par ordinateur pour l'électroniqueLa CAO électronique (pour Conception assistée par ordinateur électronique), nommée également en anglais EDA (pour Electronic design automation), est la catégorie des outils servant à la conception et la production des systèmes électroniques allant des circuits imprimés jusqu'aux circuits intégrés. Le terme CAO est aussi utilisé pour désigner la CAO mécanique, la conception assistée par ordinateur et la fabrication assistée par ordinateur en électronique et en électrotechnique.
Intégration à très grande échelleL'intégration à très grande échelle (ou VLSI pour Very-Large-Scale Integration en anglais) est une technologie de circuit intégré (CI) dont la densité d'intégration permet de supporter plus de 100 000 composants électroniques sur une même puce. Elle a été réalisée pour la première fois dans les années 1980, dans le cadre du développement des technologies des semi-conducteurs et des communications. Les premières puces à semi-conducteurs supportaient un seul transistor chacune.
