Les bases de la diffraction IV : La loi et les rotations de Bragg
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Explore la détermination de la structure des protéines à l'aide de la cristallographie aux rayons X et de la spectroscopie RMN, couvrant l'importance historique, la formation des cristaux, les modèles de diffraction et les défis de la cristallisation.
Explore la diffusion dynamique dans la diffraction électronique, en discutant des défis dans l'interprétation des modèles de diffraction et des applications dans l'imagerie des défauts cristallins et la discrimination de phase.
Couvre les principes fondamentaux de la diffraction électronique et ses applications dans la compréhension des structures cristallines et de la symétrie, y compris les vecteurs de réseau, les plans de réseau et les techniques d'imagerie en champ sombre.
Explore les phénomènes de diffusion de surface, la longueur d'onde électronique, les interférences constructives, les particules organo-métalliques et le rayonnement synchrotron dans les nanosciences.
Explore la diffraction de Fresnel et de Fraunhofer, les observations en champ proche et lointain, la mise au point des lentilles et la diffraction des rayons X par les cristaux.
Explore l'imagerie sans lentille et les techniques et applications d'imagerie diffractive par rayons X cohérentes, y compris l'imagerie 3D haute résolution de la souche nanocristal.
Couvre les techniques d'imagerie magnétique par rayons X, y compris les techniques XMCD, XRMS et l'optique par rayons X, pour l'étude des matériaux et domaines magnétiques.
Explore les synchrotrons, les techniques de rayons X, les équations de Fresnel, la rugosité et les multicouches pour la surveillance de la croissance du film.
Couvre les propriétés du rayonnement synchrotron, y compris son émission par des particules relativistes et son effet sur le faisceau par amortissement du rayonnement.
Explique la loi de Bragg dans Transmission Electron Microscopie, en se concentrant sur la relation entre la longueur d'onde, l'espacement du réseau cristallin et l'angle de diffraction.
Explore l'interférence de la lumière avec les réseaux de diffraction et calcule le nombre de fentes nécessaires pour séparer des longueurs d'onde spécifiques.
