Présente EBSD et ESEM, couvrant l'acquisition, la préparation d'échantillons, l'indexation, les applications et l'analyse de données, ainsi que le fonctionnement et les avantages d'ESEM.
Explore les modes d'imagerie en TEM, couvrant les interactions électroniques, la diffraction, la formation de contraste et la correction de l'astigmatisme.
Explore la perspective historique, les propriétés et les applications des rayons X, y compris la diffraction, la résolution atomique et les couleurs spectrales des éléments.
Explore les principes de la microscopie électronique à transmission par balayage (STEM) pour la microscopie analytique, couvrant la diffraction TEM, les détecteurs et l'analyse EDS.
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Couvre les principes et les applications de la microscopie électronique de transmission, y compris l'imagerie, la diffraction, les mécanismes de contraste et les techniques in situ.
Couvre la théorie de la diffraction des électrons, la loi de Bragg, le réseau réciproque, la sphère d'Ewald et l'imagerie en champ sombre à faisceau faible.
Couvre les bases de la microscopie électronique à balayage, y compris l'interaction de la matière électronique, les techniques d'imagerie et les sujets avancés connexes.
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Introduit la microscopie électronique, couvrant l'organisation pratique, la préparation d'échantillon, l'interaction rayonnement-matière, et les mécanismes de détecteur.
