Test des systèmes VLSI : BIST et Response Compaction

Cette séance de cours couvre les principes des techniques d'auto-test intégré (BIST) et du compactage de réponse dans les systèmes VLSI. Il explique l'utilisation des registres à décalage à rétroaction linéaire (LFSR) pour générer des séquences pseudo-aléatoires et les avantages et inconvénients de BIST. La séance de cours se penche également sur les techniques de compactage de réponse telles que le compacteur de comptage, le compacteur de comptage de transition et le contrôle de parité. Il traite de la mise en œuvre du registre de signature à entrées multiples (MISR) et de l'observateur de blocs logiques intégré (BILBO) pour une analyse efficace des réponses. La séance de cours se termine par une discussion sur les points de test et leur impact sur la couverture des défauts dans les tests VLSI.