Explore la diffraction des électrons du faisceau convergent, les principes de couverture, l'alignement des échantillons, les effets d'épaisseur et les ressources pour une étude plus approfondie.
Introduit les bases de la microscopie électronique à transmission, couvrant la diffraction électronique, les modes d'imagerie, la préparation des échantillons, les propriétés électroniques et l'imagerie à haute résolution.
Explore les bases de la diffraction électronique, y compris la loi de Bragg, le réseau réciproque et des applications telles que la discrimination en phase cristalline.
Explore les bases et les applications de la diffraction de rétrodiffusion électronique (EBSD) dans le SEM, en couvrant des techniques telles que l'acquisition et l'analyse de motifs.
Explore les principes de la microscopie électronique à transmission par balayage (STEM), les détecteurs, les mécanismes de contraste et les applications en imagerie haute résolution.
Présente EBSD et ESEM, couvrant l'acquisition, la préparation d'échantillons, l'indexation, les applications et l'analyse de données, ainsi que le fonctionnement et les avantages d'ESEM.