Test des systèmes VLSI

Cette séance de cours présente l'analyse et la mise en œuvre des techniques de test pour les systèmes numériques VLSI, couvrant des sujets tels que l'économie de test, l'équipement de test automatique et la conception pour la testabilité. Les étudiants en apprendront davantage sur la modélisation des défauts, la simulation des défauts et les mesures de testabilité, ainsi que sur la nécessité des tests VLSI et des algorithmes de test IC populaires. Le cours comprend également des séances pratiques de laboratoire informatique et un aperçu des outils logiciels de test EDA. Divers défauts dans les circuits intégrés sont discutés, ainsi que l'importance de la vérification et des tests dans le processus de fabrication des circuits intégrés. La séance de cours met l'accent sur l'impact économique des tests et les défis posés par la complexité et l'échelle des CI modernes.