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Test des systèmes VLSI

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Dans cours

EE-530: Test of VLSI systems

Test of VLSI Systems covers theoretical knowledge related to the major algorithms used in VLSI test, and design for test techniques. Basic knowledge related to computer-aided design for test techniques, and their integration into a design-flow are presente ...

Description

Cette séance de cours couvre les concepts de défauts, d'erreurs et de défauts dans les systèmes VLSI, y compris les modèles de défauts tels que les défauts uniques bloqués et les défauts de pontage. Il explique la différence entre les tests fonctionnels et structurels, la question de la mise à l'échelle et de la complexité, et l'importance de l'effondrement des fautes et de la dominance des fautes. La séance de cours traite également des défis de multiples défauts bloqués, des défauts au niveau du transistor et de l'identification de la redondance et des défauts non testables.

Enseignant·e

Alexandre Schmid

Enseignement et PhD A dirigé les thèses EPFL de Mahsa Shoaran, Wen-Yang Hsu, Reza Ranjandish, Keyvan Farhang Razi, Mohammad Javad Karimi A co-dirigé les thèses EPFL de Milos Stanisavljevic, Neil Joye, Vahid Majidzadeh Bafar, Hossein Afshari, Nikola Katic, Abdulkadir Akin Cours Analog circuits for biochip EE-518 Introduction à la conception analogique CMOS pour des biocapteurs à distance sur puce. Compréhension et la conception de systèmes de biocapteurs actifs et alimentés à distance. Compré

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Concepts associés (30)

Intégration à très grande échelle

L'intégration à très grande échelle (ou VLSI pour Very-Large-Scale Integration en anglais) est une technologie de circuit intégré (CI) dont la densité d'intégration permet de supporter plus de 100 000 composants électroniques sur une même puce. Elle a été réalisée pour la première fois dans les années 1980, dans le cadre du développement des technologies des semi-conducteurs et des communications. Les premières puces à semi-conducteurs supportaient un seul transistor chacune.

Electrical fault

In an electric power system, a fault or fault current is any abnormal electric current. For example, a short circuit is a fault in which a live wire touches a neutral or ground wire. An open-circuit fault occurs if a circuit is interrupted by a failure of a current-carrying wire (phase or neutral) or a blown fuse or circuit breaker. In three-phase systems, a fault may involve one or more phases and ground, or may occur only between phases. In a "ground fault" or "earth fault", current flows into the earth.

Test (informatique)

vignette|Une programmeuse écrivant du code Java avec JUnit. En informatique, un test désigne une procédure de vérification partielle d'un système. Son objectif principal est d'identifier un nombre maximal de comportements problématiques du logiciel. Il permet ainsi, dès lors que les problèmes identifiés seront corrigés, d'en augmenter la qualité. D'une manière plus générale, le test désigne toutes les activités qui consistent à rechercher des informations quant à la qualité du système afin de permettre la prise de décisions.

Classe de complexité

En informatique théorique, et plus précisément en théorie de la complexité, une classe de complexité est un ensemble de problèmes algorithmiques dont la résolution nécessite la même quantité d'une certaine ressource. Une classe est souvent définie comme l'ensemble de tous les problèmes qui peuvent être résolus sur un modèle de calcul M, utilisant une quantité de ressources du type R, où n, est la taille de l'entrée. Les classes les plus usuelles sont celles définies sur des machines de Turing, avec des contraintes de temps de calcul ou d'espace.

Residual-current device

A residual-current device (RCD), residual-current circuit breaker (RCCB) or ground fault circuit interrupter (GFCI) is an electrical safety device that quickly breaks an electrical circuit with leakage current to ground. It is to protect equipment and to reduce the risk of serious harm from an ongoing electric shock. Injury may still occur in some cases, for example if a human receives a brief shock before the electrical circuit is isolated, falls after receiving a shock, or if the person touches both conductors at the same time.

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