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Séance de cours

Test des systèmes VLSI

Dans cours

EE-530: Test of VLSI systems

Test of VLSI Systems covers theoretical knowledge related to the major algorithms used in VLSI test, and design for test techniques. Basic knowledge related to computer-aided design for test techniques, and their integration into a design-flow are presente ...

Description

Cette séance de cours couvre les concepts de défauts, d'erreurs et de défauts dans les systèmes VLSI, y compris les modèles de défauts tels que les défauts uniques bloqués et les défauts de pontage. Il explique la différence entre les tests fonctionnels et structurels, la question de la mise à l'échelle et de la complexité, et l'importance de l'effondrement des fautes et de la dominance des fautes. La séance de cours traite également des défis de multiples défauts bloqués, des défauts au niveau du transistor et de l'identification de la redondance et des défauts non testables.

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Enseignant·e

Alexandre Schmid

Alexandre Schmid received the M.Sc. degree in microengineering and the Ph.D. degree in electrical engineering from the Swiss Federal Institute of Technology (EPFL), Lausanne, Switzerland, in 1994 and 2000, respectively. Since 1994, he has been with the EPFL, working with the Integrated Systems Laboratory as a Research and Teaching Assistant, and with the Electronics Laboratories as a Postdoctoral Fellow. In 2002, he was a Senior Research Associate with the Microelectronic Systems Laboratory, where he has been conducting research in the fields of bioelectronic interfaces and implantable biomedical electronics, nonconventional signal processing and neuromorphic hardware, and reliability of nanoelectronic devices, and also teaches with the Microengineering and Electrical Engineering Departments of EPFL. Since 2011, he is a Maître d'Enseignement et de Recherche (MER) Faculty Member with EPFL. He is a coauthor of two books, Reliability of Nanoscale Circuits and Systems, Methodologies and Circuit Architectures, Springer, 2011, and Wireless Cortical Implantable Systems, Springer, 2013, and a coeditor of one book, as well as over 100 articles published in journals and conferences. Dr. Schmid has served as the General Chair of the Fourth International Conference on Nano-Networks in 2009 and has been serving as an Associate Editor of the Institute of Electrical, Information, and Communication Engineers Electronics Express since 2009.

Source officielle

Concepts associés (32)

Electrical fault

In an electric power system, a fault or fault current is any abnormal electric current. For example, a short circuit is a fault in which a live wire touches a neutral or ground wire. An open-circuit fault occurs if a circuit is interrupted by a failure of a current-carrying wire (phase or neutral) or a blown fuse or circuit breaker. In three-phase systems, a fault may involve one or more phases and ground, or may occur only between phases. In a "ground fault" or "earth fault", current flows into the earth.

Disjoncteur

thumb|upright=1.2|Un disjoncteur bipolaire monté sur rail. Les deux contacteurs solidaires sont en parallèle, mais il existe aussi des disjoncteurs bipoles en monocontacteur. Un disjoncteur est un interrupteur électrique à commande automatique conçu pour laisser circuler le courant électrique, et, protéger un circuit électrique contre les dommages causés par un courant excessif provenant d'une surcharge, d'un court-circuit ou d'une fuite à la terre (disjoncteur différentiel).

Test (informatique)

vignette|Une programmeuse écrivant du code Java avec JUnit. En informatique, un test désigne une procédure de vérification partielle d'un système. Son objectif principal est d'identifier un nombre maximal de comportements problématiques du logiciel. Il permet ainsi, dès lors que les problèmes identifiés seront corrigés, d'en augmenter la qualité. D'une manière plus générale, le test désigne toutes les activités qui consistent à rechercher des informations quant à la qualité du système afin de permettre la prise de décisions.

Intégration à très grande échelle

L'intégration à très grande échelle (ou VLSI pour Very-Large-Scale Integration en anglais) est une technologie de circuit intégré (CI) dont la densité d'intégration permet de supporter plus de 100 000 composants électroniques sur une même puce. Elle a été réalisée pour la première fois dans les années 1980, dans le cadre du développement des technologies des semi-conducteurs et des communications. Les premières puces à semi-conducteurs supportaient un seul transistor chacune.

Classe de complexité

En informatique théorique, et plus précisément en théorie de la complexité, une classe de complexité est un ensemble de problèmes algorithmiques dont la résolution nécessite la même quantité d'une certaine ressource. Une classe est souvent définie comme l'ensemble de tous les problèmes qui peuvent être résolus sur un modèle de calcul M, utilisant une quantité de ressources du type R, où n, est la taille de l'entrée. Les classes les plus usuelles sont celles définies sur des machines de Turing, avec des contraintes de temps de calcul ou d'espace.

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Séances de cours associées (30)

Résoudre les jeux de parité dans la pratique

Explore les aspects pratiques de la résolution des jeux de parité, y compris les stratégies gagnantes, les algorithmes, la complexité, le déterminisme et les approches heuristiques.

Sans titre

Complexité algorithmique : définition et exemples

Explore l'exactitude de l'algorithme, l'analyse de la complexité dans le pire des cas et la comparaison de l'efficacité en fonction de la taille des entrées.

Recherche de mise en oeuvre : concepts et portée

Explorer la mise en oeuvre de la recherche, relever les défis dans la mise en oeuvre d'interventions en santé et élaborer des stratégies efficaces pour les maladies infectieuses de la pauvreté.

Surajustement: symptômes et caractéristiques

Explore le surajustement dans la régression polynomiale, en soulignant l'importance de la généralisation dans l'apprentissage automatique et les statistiques.

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Concepts associés (32)

Electrical fault

Disjoncteur

Test (informatique)

Intégration à très grande échelle

Classe de complexité

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