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Fault Collapsing dans les systèmes VLSI

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Dans cours

EE-530: Test of VLSI systems

Test of VLSI Systems covers theoretical knowledge related to the major algorithms used in VLSI test, and design for test techniques. Basic knowledge related to computer-aided design for test techniques, and their integration into a design-flow are presente ...

Description

Cette séance de cours couvre l'effondrement des défauts dans les systèmes VLSI, où les défauts sont partitionnés en ensembles d'équivalence et effondrés pour réduire la redondance. Il explique la procédure, l'effondrement des défauts de dominance, les multiples défauts bloqués, les défauts au niveau du transistor et les défauts de pontage. L'instructeur discute également de la redondance et des défauts non testables.

Enseignant·e

Alexandre Schmid

Enseignement et PhD A dirigé les thèses EPFL de Mahsa Shoaran, Wen-Yang Hsu, Reza Ranjandish, Keyvan Farhang Razi, Mohammad Javad Karimi A co-dirigé les thèses EPFL de Milos Stanisavljevic, Neil Joye, Vahid Majidzadeh Bafar, Hossein Afshari, Nikola Katic, Abdulkadir Akin Cours Analog circuits for biochip EE-518 Introduction à la conception analogique CMOS pour des biocapteurs à distance sur puce. Compréhension et la conception de systèmes de biocapteurs actifs et alimentés à distance. Compré

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Concepts associés (30)

Conception assistée par ordinateur pour l'électronique

La CAO électronique (pour Conception assistée par ordinateur électronique), nommée également en anglais EDA (pour Electronic design automation), est la catégorie des outils servant à la conception et la production des systèmes électroniques allant des circuits imprimés jusqu'aux circuits intégrés. Le terme CAO est aussi utilisé pour désigner la CAO mécanique, la conception assistée par ordinateur et la fabrication assistée par ordinateur en électronique et en électrotechnique.

Tolérance aux pannes

vignette|Fichier GIF animé de 8 algorithmes ECT dans un réseau 802.1aq. La source est surlignée en violet, la destination en jaune. Les lignes violettes sont des chemins entre la source et la destination et l'épaisseur indique combien de chemins traversent un lien donné. La tolérance aux pannes (ou « insensibilité aux pannes ») désigne une méthode de conception permettant à un système de continuer à fonctionner, éventuellement de manière réduite (on dit aussi en « mode dégradé »), au lieu de tomber complètement en panne, lorsque l'un de ses composants ne fonctionne plus correctement.

Intégration à très grande échelle

L'intégration à très grande échelle (ou VLSI pour Very-Large-Scale Integration en anglais) est une technologie de circuit intégré (CI) dont la densité d'intégration permet de supporter plus de 100 000 composants électroniques sur une même puce. Elle a été réalisée pour la première fois dans les années 1980, dans le cadre du développement des technologies des semi-conducteurs et des communications. Les premières puces à semi-conducteurs supportaient un seul transistor chacune.

Électronique numérique

L'électronique numérique concerne le système ou la technologie appliquée dont les caractéristiques sont exprimées par des valeurs de nombres, en anglais digital signifiant « chiffre ». La meilleure fiabilité lors de la transmission des signaux numérisés procure en principe, un contrôle de bout en bout de la chaîne des signaux. Le mode numérique permet de s'affranchir le plus souvent du bruit de fond, des parasites et autres artefacts lors de la transmission et améliore notamment le rapport signal sur bruit.

Redondance (ingénierie)

vignette| Alimentation redondante En ingénierie, la redondance est la duplication de composants ou de fonctions critiques d'un système dans le but d'augmenter la fiabilité du système, généralement sous la forme d'une sauvegarde ou d'une sécurité intégrée, ou pour améliorer les performances réelles du système, comme dans le cas de récepteurs GNSS ou traitement informatique multithread.

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Séances de cours associées (20)

L’effort logique : principes fondamentaux de la conception VLSI

Couvre la méthode d'effort logique pour optimiser le retard logique et l'impact de dimensionnement de la porte.

Essai des systèmes VLSI: ATTPG et couverture par défaut

Explore la génération de vecteurs de test, les algorithmes ATPG, la couverture des défauts et la sensibilisation au chemin dans les systèmes VLSI.

Test des systèmes VLSI

Explore les défauts, les erreurs et les modèles de défauts dans les systèmes VLSI, en mettant l'accent sur l'effondrement des défauts et la domination.

Introduction à la conception avancée VLSI

Couvre les concepts avancés de conception VLSI, y compris la conception personnalisée complète et l'ajout de préfixes parallèles.

Conception RTL semi-personnalisée: flux de conception et cellules standard

Explore le flux de conception RTL, l'intégration au niveau de la puce, les cellules standard et l'analyse de synchronisation statique dans la conception VLSI.

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