Essai des systèmes VLSI: ATTPG et couverture par défaut

Cette séance de cours couvre la génération de modèles de vecteurs d'essai pour les systèmes VLSI, en mettant l'accent sur les algorithmes ATPG combinés et séquentiels. Il explique la charge de calcul des circuits d'essais fonctionnels et structuraux, le concept d'ATTPG, les abstractions d'espaces de recherche et l'algèbre à 5 valeurs de Roth. La méthode de sensibilisation du chemin est détaillée, illustrant comment les défauts sont activés, propagés et justifiés. Des exemples démontrent l'application de la sensibilisation au chemin dans l'identification des défauts et la création de vecteurs d'essai. La séance de cours se termine par le D-algorithme, principaux implicants essentiels, et la propagation des effets de failles à travers les portes.