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Explore les lasers à rayons X libres dans la biochimie, l'imagerie monoparticulaire et la dynamique des liaisons chimiques, ainsi que la science à haute pression.
Explore les transitions de verre et de fusion dans les polymères, y compris les méthodes de caractérisation et les propriétés spécifiques des polymères.
Couvre des exercices sur la diffraction électronique pour identifier les structures cristallines et analyser les modèles de diffraction avec précision.
Démontre diverses caractéristiques d'antenne, la modulation du signal, la réception, la polarisation, la diffraction et les avantages de polarisation circulaire dans les communications par satellite.
Couvre la théorie, la conception, la sensibilité, la direction, la diffraction et les spécifications comme les plages d'impédance et les connecteurs de sortie.
Couvre les bases de la diffraction électronique, de la théorie de la diffraction, de la formation d'images et des techniques de diffraction des rayons X.
Introduit la diffusion dynamique dans TEM, couvrant la diffusion élastique unique et multiple, la diffraction à 2 faisceaux, la théorie des ondes Bloch et l'intensité de diffusion.
Explore les principes de diffraction de Laue, les applications et les techniques modernes dans la science des matériaux et les expériences résolues dans le temps.
Couvre la source d'ions ALIS He et son application en microscopie à haute résolution, fournissant des détails de surface et un contraste de matériau remarquables.
Explore la détermination de la structure cristalline en utilisant la diffraction électronique 3D et ses applications en nanocristallographie, mettant l'accent sur les défis et les progrès.
Se penche sur les progrès de l'imagerie optique, sur les limites de diffraction et sur l'imagerie par des milieux complexes, en mettant l'accent sur les applications biologiques.
Couvre les principes fondamentaux de la diffraction électronique et ses applications dans la compréhension des structures cristallines et de la symétrie, y compris les vecteurs de réseau, les plans de réseau et les techniques d'imagerie en champ sombre.
Analyse les modèles d'interférence à partir d'un appareil à six fentes pour déterminer la relation entre la largeur et la distance des fentes, en présentant des expressions mathématiques et des représentations graphiques.
