Explore la diffraction de Fresnel et de Fraunhofer, les observations en champ proche et lointain, la mise au point des lentilles et la diffraction des rayons X par les cristaux.
Explore Fourier et Laplace se transforment en science des matériaux, en mettant l'accent sur l'interaction lumière-matière, les motifs de diffraction et les propriétés cristallines.
Explore les principes de la microscopie électronique à transmission (TEM), les mécanismes de contraste, l'identification des dislocations et les méthodes de nettoyage des échantillons pour une imagerie précise.
Analyse les modèles d'interférence à partir d'un appareil à six fentes pour déterminer la relation entre la largeur et la distance des fentes, en présentant des expressions mathématiques et des représentations graphiques.
Explore les phénomènes de diffraction, les interférences et les limitations de résolution dans les processus d'imagerie dus aux interférences des ondes.
Explore la diffraction et les interférences dans de multiples fentes, illustrant la relation entre la séparation des fentes et la longueur d'onde de la lumière.
Discute des interactions onde-matière, en se concentrant sur les phénomènes de diffraction et de diffusion, y compris les principes de réflexion, de réfraction et la signification des interactions rayons X.
