Séance de cours

ATPG combinatoire et séquentiel

Graph Chat

Chattez avec Graph Search

Posez n’importe quelle question sur les cours, conférences, exercices, recherches, actualités, etc. de l’EPFL ou essayez les exemples de questions ci-dessous.

AVERTISSEMENT : Le chatbot Graph n'est pas programmé pour fournir des réponses explicites ou catégoriques à vos questions. Il transforme plutôt vos questions en demandes API qui sont distribuées aux différents services informatiques officiellement administrés par l'EPFL. Son but est uniquement de collecter et de recommander des références pertinentes à des contenus que vous pouvez explorer pour vous aider à répondre à vos questions.

Dans cours

EE-530: Test of VLSI systems

Test of VLSI Systems covers theoretical knowledge related to the major algorithms used in VLSI test, and design for test techniques. Basic knowledge related to computer-aided design for test techniques, and their integration into a design-flow are presente ...

Description

Cette séance de cours couvre le D-calcul, y compris le D-cube primitif de l'échec, propagé D-cubes, et les procédures d'implication. Des exemples démontrent l'application de ces concepts dans la détection de défauts et la génération de vecteurs de test pour les systèmes VLSI.

Enseignant·e

Alexandre Schmid

Enseignement et PhD A dirigé les thèses EPFL de Mahsa Shoaran, Wen-Yang Hsu, Reza Ranjandish, Keyvan Farhang Razi, Mohammad Javad Karimi A co-dirigé les thèses EPFL de Milos Stanisavljevic, Neil Joye, Vahid Majidzadeh Bafar, Hossein Afshari, Nikola Katic, Abdulkadir Akin Cours Analog circuits for biochip EE-518 Introduction à la conception analogique CMOS pour des biocapteurs à distance sur puce. Compréhension et la conception de systèmes de biocapteurs actifs et alimentés à distance. Compré

Source officielle

Concepts associés (16)

Design for testing

Design for testing or design for testability (DFT) consists of IC design techniques that add testability features to a hardware product design. The added features make it easier to develop and apply manufacturing tests to the designed hardware. The purpose of manufacturing tests is to validate that the product hardware contains no manufacturing defects that could adversely affect the product's correct functioning. Tests are applied at several steps in the hardware manufacturing flow and, for certain products, may also be used for hardware maintenance in the customer's environment.

Algorithme

thumb|Algorithme de découpe d'un polygone quelconque en triangles (triangulation). Un algorithme est une suite finie et non ambiguë d'instructions et d’opérations permettant de résoudre une classe de problèmes. Le domaine qui étudie les algorithmes est appelé l'algorithmique. On retrouve aujourd'hui des algorithmes dans de nombreuses applications telles que le fonctionnement des ordinateurs, la cryptographie, le routage d'informations, la planification et l'utilisation optimale des ressources, le , le traitement de textes, la bio-informatique L' algorithme peut être mis en forme de façon graphique dans un algorigramme ou organigramme de programmation.

Intégration à très grande échelle

L'intégration à très grande échelle (ou VLSI pour Very-Large-Scale Integration en anglais) est une technologie de circuit intégré (CI) dont la densité d'intégration permet de supporter plus de 100 000 composants électroniques sur une même puce. Elle a été réalisée pour la première fois dans les années 1980, dans le cadre du développement des technologies des semi-conducteurs et des communications. Les premières puces à semi-conducteurs supportaient un seul transistor chacune.

Conception assistée par ordinateur pour l'électronique

La CAO électronique (pour Conception assistée par ordinateur électronique), nommée également en anglais EDA (pour Electronic design automation), est la catégorie des outils servant à la conception et la production des systèmes électroniques allant des circuits imprimés jusqu'aux circuits intégrés. Le terme CAO est aussi utilisé pour désigner la CAO mécanique, la conception assistée par ordinateur et la fabrication assistée par ordinateur en électronique et en électrotechnique.

Circuit intégré

Le circuit intégré (CI), aussi appelé puce électronique, est un composant électronique, basé sur un semi-conducteur, reproduisant une ou plusieurs fonctions électroniques plus ou moins complexes, intégrant souvent plusieurs types de composants électroniques de base dans un volume réduit (sur une petite plaque), rendant le circuit facile à mettre en œuvre. Il existe une très grande variété de ces composants divisés en deux grandes catégories : analogique et numérique.

Afficher plus

Séances de cours associées (15)

L’effort logique : principes fondamentaux de la conception VLSI

Couvre la méthode d'effort logique pour optimiser le retard logique et l'impact de dimensionnement de la porte.

Essai des systèmes VLSI: ATTPG et couverture par défaut

Explore la génération de vecteurs de test, les algorithmes ATPG, la couverture des défauts et la sensibilisation au chemin dans les systèmes VLSI.

Test des systèmes VLSI

Explore les défauts, les erreurs et les défaillances dans les systèmes VLSI, y compris les modèles de défaillance et les défis de test.

Conception RTL semi-personnalisée: flux de conception et cellules standard

Explore le flux de conception RTL, l'intégration au niveau de la puce, les cellules standard et l'analyse de synchronisation statique dans la conception VLSI.

VLSI Testing : Techniques et économie

Explore les techniques de test pour les systèmes VLSI numériques, couvrant la modélisation des défauts, la génération de modèles de test et la conception pour la testabilité.

Afficher plus

Concepts associés (16)

Design for testing

Algorithme

Intégration à très grande échelle

Conception assistée par ordinateur pour l'électronique

Circuit intégré

Afficher plus