Explore la détermination de la structure cristalline en utilisant la diffraction électronique 3D et ses applications en nanocristallographie, mettant l'accent sur les défis et les progrès.
Couvre la théorie de la diffraction des électrons, la loi de Bragg, le réseau réciproque, la sphère d'Ewald et l'imagerie en champ sombre à faisceau faible.
Explore les forces, les pointes et les sondes utilisées dans la microscopie à sonde à balayage, en se concentrant sur les principes AFM, les limites de résolution des pointes et la fabrication de sondes en porte-à-faux.
Explore la microscopie de contraste d'interférence différentielle, expliquant ses principes, équipement, interprétation d'image, et comparaison avec la microscopie de contraste de phase.
Explore les nombres magiques dans les nanoparticules, les mécanismes de croissance des couches minces et le courant tunnel dans les configurations STM.
Explore les encorbellements à détection automatique dans la microscopie par sonde à balayage et les avantages des systèmes capteurs-actionneurs intégrés pour la collecte de données à grande vitesse.
