Cours

MSE-675: Introduction to SEM and FIB microanalysis

Résumé

Modern Scanning Electron Microscopes, when combined with focused ion beams (Dual beam FIBs), provide a larger number of multi-modal imaging and different analytical methods. The course format consists of introductory lectures, lectures on advanced techniques and practical work.

Séances de cours

Enseignant·e·s (2)

Xavier Maeder

Enseignement et PhD Doctorant·es actuel·les Samuel Felix Bojarski, Kamila Elzbieta Hamulka, Philipp Konrad Clewie Kroeker A co-dirigé les thèses EPFL de Nicolò Maria Della Ventura Cours Advanced Microscopy for Materials MSE-677 X-Ray Analysis for thin films MSE-627

Lorenz Herrmann

Enseignement et PhD Cours Advanced Microscopy for Materials MSE-677

Source officielle

https://edu.epfl.ch/coursebook/fr/introduction-to-sem-and-fib-microanalysis-MSE-675

Page Moodle

http://go.epfl.ch/MSE-675

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