Cours

MSE-628: CCMX Advanced Course - Advanced X-ray Diffraction Methods for Coatings: strain, defects and deformation analysis of thin films

Résumé

After introducing thin film and HR-XRD characterisation methods, theory and limitations are discussed, including examples and how the film structure influences its characteristics. Protocols are presented for establishing reproducible and reliable measurements, and for interpreting their results.

Séances de cours

Enseignant·e·s (3)

Alex Dommann

Enseignement et PhD Cours CCMX Advanced Course - Advanced X-ray Diffraction Methods for Coatings: strain, defects and deformation analysis of thin films MSE-628 After introducing thin film and HR-XRD characterisation methods, theory and limitations are discussed, including examples and how the film structure influences its characteristics. Protocols are presented for establishing reproducible and reliable measurements, and for interpreting their results. X-Ray Analysis for thin films

Antonia Neels

Damien Terebenec

Source officielle

https://edu.epfl.ch/coursebook/fr/ccmx-advanced-course-advanced-x-ray-diffraction-methods-for-coatings-strain-defects-and-deformation-analysis-of-thin-films-MSE-628

Page Moodle

http://go.epfl.ch/MSE-628

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