Cours

MSE-627: X-Ray Analysis for thin films

Résumé

Intro into the relation between physical and structural properties; introduction into different X-Ray techniques; examples of successful technological transfer using X-Ray techniques; Structural properties; coherent and non coherent scattering; high resolution X-Ray techniques; stress; coatings.

Séances de cours

Enseignant·e·s (2)

Alex Dommann

Enseignement et PhD Cours CCMX Advanced Course - Advanced X-ray Diffraction Methods for Coatings: strain, defects and deformation analysis of thin films MSE-628 After introducing thin film and HR-XRD characterisation methods, theory and limitations are discussed, including examples and how the film structure influences its characteristics. Protocols are presented for establishing reproducible and reliable measurements, and for interpreting their results. X-Ray Analysis for thin films

Xavier Maeder

Enseignement et PhD Doctorant·es actuel·les Samuel Felix Bojarski, Kamila Elzbieta Hamulka, Philipp Konrad Clewie Kroeker A co-dirigé les thèses EPFL de Nicolò Maria Della Ventura Cours Advanced Microscopy for Materials MSE-677 X-Ray Analysis for thin films MSE-627

Source officielle

https://edu.epfl.ch/coursebook/fr/x-ray-analysis-for-thin-films-MSE-627

Page Moodle

http://go.epfl.ch/MSE-627

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