Cours

MSE-609: Intro Scanning electron microscopy techniques

Résumé

Modern Scanning Electron Microscopes, when combined with Focused Ion Beams (Dual beam FIB-SEM), provide a larger number of multimodal imaging and analysis/characterisation modes at the nano- and micron-scales. The aim of the course is to present the extended analytical possibilities of such device.

Séances de cours

Enseignant·e

Xavier Maeder

Enseignement et PhD Doctorant·es actuel·les Samuel Felix Bojarski, Kamila Elzbieta Hamulka, Philipp Konrad Clewie Kroeker A co-dirigé les thèses EPFL de Nicolò Maria Della Ventura Cours Advanced Microscopy for Materials MSE-677 X-Ray Analysis for thin films MSE-627

Source officielle

https://edu.epfl.ch/coursebook/fr/21intro-scanning-electron-microscopy-techniques-MSE-609

Page Moodle

http://go.epfl.ch/MSE-609

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