Explore les bases de la localisation et de la cartographie simultanées (SLAM), en se concentrant sur les techniques de création de cartes et la prédiction des mesures.
Couvre les propriétés et les structures des catégories de modèles, en mettant l'accent sur les factorisations, les structures de modèles et l'homotopie des cartes continues.
Couvre les concepts de lunettes de spin et d'estimation bayésienne, en se concentrant sur l'observation et la déduction de l'information d'un système de près.