Publication

High-Resolution Spectromicroscopy with Maximum - Photoemission Spectroscopy Reaches the 1000-Angstrom Scale

Giorgio Margaritondo
1994
Journal Articles

Résumé

We present new results from the soft X-ray scanning photoemission microscope: MAXIMUM. The microscope is installed at the U41 undulator at the Synchrotron Radiation Center at the University of Wisconsin. The instrument is based on a multilayer-coated Schwarzchild objective, operating at 95 eV, and it has demonstrated spatial resolution better than 0.1 mum and electron energy resolution of 300 meV. We review the design and the implementation of the microscope. We also present recent results as well as a summary of the research programs that are bei conducted with MAXIMUM.

Source officielle

https://infoscience.epfl.ch/entities/publication/fd1591c4-2878-47d9-a963-2d88e8168d63

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Spectrométrie photoélectronique X

vignette|upright=1.4|Machine XPS avec un analyseur de masse (A), des lentilles électromagnétiques (B), une chambre d'ultra-vide (C), une source de rayon X (D) et une pompe à vide (E) La spectrométrie photoélectronique X, ou spectrométrie de photoélectrons induits par rayons X (en anglais, X-Ray photoelectron spectrometry : XPS) est une méthode de spectrométrie photoélectronique qui implique la mesure des spectres de photoélectrons induits par des photons de rayon X.

Science des surfaces

La science des surfaces est une section de la science des matériaux consacrée à l'étude des phénomènes physiques et chimiques qui se produisent à l' entre deux phases ou entre une phase et le vide. Les propriétés de la matière en surface sont en effet distinctes de celles du cœur des matériaux (bulk). Par exemple, la coordinence des atomes en surface est inférieure à celle des atomes du reste du matériau ce qui induit une réactivité particulière de ces derniers.

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