Publication

Soft Probe Scanning Electrochemical Microscopy with Spider Array for Visualizing Biomarkers and Redox Active Proteins in Animal Tissues

Hubert Girault
2017
Conference Papers

Résumé

We present soft spider array for gentle contact mode scanning electrochemical microscopy (SECM) imaging of tissues. The spider array contains up to eight completely individual, parallel, and flexible carbon microelectrodes designed to scan square centimeter sized areas on reasonable time scales while avoiding sample aging and electrode fouling. The contact mode enables the scanning of largely curved samples at a constant distance. The spider array is applied for the SECM imaging of the distribution of certain biomarkers, such as tyrosinase, in thin tumor tissues as well as thick tumor blocks. Furthermore, the spider array can be applied for mapping the antioxidant distribution in an apple peel.

Source officielle

https://infoscience.epfl.ch/entities/publication/f081bd27-83c0-461f-bedf-eb5b1b98b764

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Microscopie à sonde locale

La microscopie à sonde locale (MSL) ou microscopie en champ proche (MCP) ou scanning probe microscopy (SPM) en anglais est une technique de microscopie permettant de cartographier le relief (nano-topographie) ou une autre grandeur physique en balayant la surface à imager à l'aide d'une pointe très fine (la pointe est idéalement un cône se terminant par un seul atome). Le pouvoir de résolution obtenu par cette technique permet d'observer jusqu'à des atomes, ce qui est physiquement impossible avec un microscope optique, quel que soit son grossissement.

Microscope à force atomique

thumb|350px|Le premier microscope à force atomique du monde, au musée de la Science de Londres. Le microscope à force atomique (AFM pour atomic force microscope) est un type de microscope à sonde locale permettant de visualiser la topographie de la surface d'un échantillon. Inventé en 1985, par Gerd Binnig, Calvin Quate et Christoph Gerber, ce type de microscopie repose essentiellement sur l'analyse d'un objet point par point au moyen d'un balayage via une sonde locale, assimilable à une pointe effilée.

Microscope à effet tunnel

thumb|Atomes de silicium à la surface d'un cristal de carbure de silicium (SiC). Image obtenue à l'aide d'un STM. Le microscope à effet tunnel (en anglais, scanning tunneling microscope, STM) est inventé en 1981 par des chercheurs d'IBM, Gerd Binnig et Heinrich Rohrer, qui reçurent le prix Nobel de physique pour cette invention en 1986. C'est un microscope en champ proche qui utilise un phénomène quantique, l'effet tunnel, pour déterminer la morphologie et la densité d'états électroniques de surfaces conductrices ou semi-conductrices avec une résolution spatiale pouvant être égale ou inférieure à la taille des atomes.

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