Publication

Ultrafast x-ray spectroscopy for structural dynamics studies in chemistry and biology

Majed Chergui
2007
Conference Papers

Résumé

Time-resolved x-ray absorption fine structure (XAFS) spectroscopy with picosecond temporal resolution is a new method to observe electronic and geometric structures of short-lived reaction intermediates. It combines an intense femtosecond laser source synchronized to the x-ray pulses delivered into the microXAS beamline of the Swiss Light Source (SLS). We present key experiments on charge transfer reactions as well as spin-crossover processes in coordination chemistry compounds next to solvation dynamics studies of photogenerated atomic radicals.

Source officielle

https://infoscience.epfl.ch/entities/publication/ed2142a8-cdb2-43fc-8248-d65c7b749f6b

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Spectroscopie laser ultrarapide

La spectroscopie laser ultrarapide est une technique spectroscopique qui utilise des lasers à impulsions ultracourtes pour l'étude de la dynamique sur des échelles de temps extrêmement courtes, de l'attoseconde (10−18 s) à la nanoseconde (10−9 s). Différentes méthodes sont utilisées pour examiner la dynamique des porteurs de charge, des atomes et des molécules. De nombreuses procédures différentes ont été développées pour différentes échelles de temps et différentes plages d'énergie des photons ; quelques méthodes courantes sont énumérées ci-dessous.

Spectroscopie des rayons X

La spectroscopie des rayons X rassemble plusieurs techniques de caractérisation spectroscopique de matériaux par excitation par rayons X. Trois familles de techniques sont le plus souvent utilisées. Selon les phénomènes mis en jeu, on distingue trois classes : L'analyse se fait par l'une des deux méthodes suivantes : analyse dispersive en énergie (Energy-dispersive x-ray analysis (EDXA) en anglais) ; analyse dispersive en longueur d'onde (Wavelength dispersive x-ray analysis (WDXA) en anglais).

Spectrométrie de fluorescence des rayons X

thumb|Analyseur portatif (Olympus Delta Professional XRF donnant la quantité de contaminants métalliques ou métalloïdes dans le sol. contaminants préoccupants recherchés sont ici le plomb, le mercure, le cadmium et l'arsenic. La spectrométrie de fluorescence des rayons X (SFX ou FX, ou en anglais XRF pour X-ray fluorescence) est une technique d'analyse chimique utilisant une propriété physique de la matière, la fluorescence de rayons X.

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