Publication

Micromechanical testing of SU-8 cantilevers

Tobias Kramer
2003
Conference Papers

Résumé

SU-8 is a photoplastic polymer with a wide range of applications in microtechnology. Cantilevers designed for a commercial Atomic Force Microscope (AFM) were fabricated in SU-8. The mechanical properties of these cantilevers were investigated using two microscale mechanical testing techniques: contact surface profilometer deflection, known as MAT-Test, and static load deflection using a specially designed test machine, the MFT2000. The Young’s modulus values from the microscale test methods are approximately 2-3 GPa. These results are compared with results from macroscale tests of 4-5 GPa. The test methods and the results are discussed.

Source officielle

https://infoscience.epfl.ch/entities/publication/e51596ab-4b4c-4217-8682-11e8264cb7b1

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Microscope à force atomique

thumb|350px|Le premier microscope à force atomique du monde, au musée de la Science de Londres. Le microscope à force atomique (AFM pour atomic force microscope) est un type de microscope à sonde locale permettant de visualiser la topographie de la surface d'un échantillon. Inventé en 1985, par Gerd Binnig, Calvin Quate et Christoph Gerber, ce type de microscopie repose essentiellement sur l'analyse d'un objet point par point au moyen d'un balayage via une sonde locale, assimilable à une pointe effilée.

Microscopie à sonde locale

La microscopie à sonde locale (MSL) ou microscopie en champ proche (MCP) ou scanning probe microscopy (SPM) en anglais est une technique de microscopie permettant de cartographier le relief (nano-topographie) ou une autre grandeur physique en balayant la surface à imager à l'aide d'une pointe très fine (la pointe est idéalement un cône se terminant par un seul atome). Le pouvoir de résolution obtenu par cette technique permet d'observer jusqu'à des atomes, ce qui est physiquement impossible avec un microscope optique, quel que soit son grossissement.

Microscopie électronique en transmission

vignette|upright=1.5|Principe de fonctionnement du microscope électronique en transmission. vignette|Un microscope électronique en transmission (1976). La microscopie électronique en transmission (MET, ou TEM pour l'anglais transmission electron microscopy) est une technique de microscopie où un faisceau d'électrons est « transmis » à travers un échantillon très mince. Les effets d'interaction entre les électrons et l'échantillon donnent naissance à une image, dont la résolution peut atteindre 0,08 nanomètre (voire ).

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