Publication

Towards the fluorescence resonance energy transfer (FRET) scanning near-field optical microscopy: Investigation of nanolocal FRET processes and FRET probe microscope

Majed Chergui, Giovanni Dietler
2000
Journal Articles

Résumé

The fluorescence resonance energy-transfer (FRET) process was studied between donor dye mols. deposited on the sample surface and acceptor dye mols. deposited on the tips of scanning near-field and at. force microscopes. The FRET process was obsd. only when the tip acquired contact with the sample and took place in regions of sizes of only a few tens of nanometers with only a few thousands (or even hundreds) of mols. involved. The dependence of the FRET intensity on the tip-sample acting force is recorded and interpreted. In relation to the obtained results, the construction of a previously proposed 1-atom FRET SNOM is described. [on SciFinder (R)]

Source officielle

https://infoscience.epfl.ch/entities/publication/833c5fab-33e4-479d-9021-cbd6d3b1e3de

À propos de ce résultat

Cette page est générée automatiquement et peut contenir des informations qui ne sont pas correctes, complètes, à jour ou pertinentes par rapport à votre recherche. Il en va de même pour toutes les autres pages de ce site. Veillez à vérifier les informations auprès des sources officielles de l'EPFL.

Graph Chat

Chattez avec Graph Search

Posez n’importe quelle question sur les cours, conférences, exercices, recherches, actualités, etc. de l’EPFL ou essayez les exemples de questions ci-dessous.

AVERTISSEMENT : Le chatbot Graph n'est pas programmé pour fournir des réponses explicites ou catégoriques à vos questions. Il transforme plutôt vos questions en demandes API qui sont distribuées aux différents services informatiques officiellement administrés par l'EPFL. Son but est uniquement de collecter et de recommander des références pertinentes à des contenus que vous pouvez explorer pour vous aider à répondre à vos questions.

Majed Chergui, Giovanni Dietler
2000
Journal Articles

Résumé

Source officielle

https://infoscience.epfl.ch/entities/publication/833c5fab-33e4-479d-9021-cbd6d3b1e3de

À propos de ce résultat

Concepts associés (24)

Microscopie à sonde locale

La microscopie à sonde locale (MSL) ou microscopie en champ proche (MCP) ou scanning probe microscopy (SPM) en anglais est une technique de microscopie permettant de cartographier le relief (nano-topographie) ou une autre grandeur physique en balayant la surface à imager à l'aide d'une pointe très fine (la pointe est idéalement un cône se terminant par un seul atome). Le pouvoir de résolution obtenu par cette technique permet d'observer jusqu'à des atomes, ce qui est physiquement impossible avec un microscope optique, quel que soit son grossissement.

Transfert d'énergie entre molécules fluorescentes

Le transfert d'énergie entre molécules fluorescentes ou transfert d'énergie par résonance de type Förster (en anglais, Förster resonance energy transfer ou FRET, resonance energy transfer ou RET ou electronic energy transfer ou EET), bien qu’observé par Perrin au début du , est décrit pour la première fois par Theodor Förster en 1946. Les applications de cette approche à l’étude des interactions protéiques apparaîtront vers la fin du . vignette|Figure 1. Conditions du FRET. A.

Microscope à force atomique

thumb|350px|Le premier microscope à force atomique du monde, au musée de la Science de Londres. Le microscope à force atomique (AFM pour atomic force microscope) est un type de microscope à sonde locale permettant de visualiser la topographie de la surface d'un échantillon. Inventé en 1985, par Gerd Binnig, Calvin Quate et Christoph Gerber, ce type de microscopie repose essentiellement sur l'analyse d'un objet point par point au moyen d'un balayage via une sonde locale, assimilable à une pointe effilée.

Afficher plus

Publications associées (6)

Afficher plus

Towards the fluorescence resonance energy transfer (FRET) scanning near-field optical microscopy: Investigation of nanolocal FRET processes and FRET probe microscope

Chattez avec Graph Search

Batch Fabrication of Multilayer Polymer Cantilevers with Integrated Hard Tips for High-Speed Atomic Force Microscopy

Exploring Nanoscale Electrical Properties of CuO-Graphene Based Hybrid Interfaced Memory Device by Conductive Atomic Force Microscopy

Detection of early bladder carcinoma by fluorescence cystoscopy with Hexvix(R): Improvement of the specificity by microcystoscopy