Publication

Observation and Modification of the Surface of Some Organic Crystals by Means of Atomic Force Microscopy

Giovanni Dietler, Gervais Chapuis, Dieter Schwarzenbach
2002
Journal Articles

Résumé

Crystals of hexamethylenetetramine (HMT) with aliphatic dicarboxylic acids in 1:1 molar ratio exhibit different behaviour depending on the number n of carbons in the aliphatic chain. For n=8 and 10, incommensurate phases have been observed, while for n=9, a commensurate disordered phase is found. The structure consists of alternating layers of roughly spherical HMT and acid chains. Atomic force microscope (AFM) has been used in order to characterise these layers in several different crystals. Images have been collected in contact and tapping modes. Contact mode images reveal that the tip interaction removed systematically an integer number of layers of the crystal. Morphological changes of the surface are observed in the images collected in tapping mode.

Source officielle

https://infoscience.epfl.ch/entities/publication/727be1f2-7121-4f46-a5bd-d8dea73ec59a

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Concepts associés (32)

Microscope à force atomique

thumb|350px|Le premier microscope à force atomique du monde, au musée de la Science de Londres. Le microscope à force atomique (AFM pour atomic force microscope) est un type de microscope à sonde locale permettant de visualiser la topographie de la surface d'un échantillon. Inventé en 1985, par Gerd Binnig, Calvin Quate et Christoph Gerber, ce type de microscopie repose essentiellement sur l'analyse d'un objet point par point au moyen d'un balayage via une sonde locale, assimilable à une pointe effilée.

Microscopie à sonde locale

La microscopie à sonde locale (MSL) ou microscopie en champ proche (MCP) ou scanning probe microscopy (SPM) en anglais est une technique de microscopie permettant de cartographier le relief (nano-topographie) ou une autre grandeur physique en balayant la surface à imager à l'aide d'une pointe très fine (la pointe est idéalement un cône se terminant par un seul atome). Le pouvoir de résolution obtenu par cette technique permet d'observer jusqu'à des atomes, ce qui est physiquement impossible avec un microscope optique, quel que soit son grossissement.

Microscope à effet tunnel

thumb|Atomes de silicium à la surface d'un cristal de carbure de silicium (SiC). Image obtenue à l'aide d'un STM. Le microscope à effet tunnel (en anglais, scanning tunneling microscope, STM) est inventé en 1981 par des chercheurs d'IBM, Gerd Binnig et Heinrich Rohrer, qui reçurent le prix Nobel de physique pour cette invention en 1986. C'est un microscope en champ proche qui utilise un phénomène quantique, l'effet tunnel, pour déterminer la morphologie et la densité d'états électroniques de surfaces conductrices ou semi-conductrices avec une résolution spatiale pouvant être égale ou inférieure à la taille des atomes.

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