Publication

Evaluation of InP/InGaAsP distributed Bragg reflectors grown by chemical-beam epitaxy

Elyahou Kapon, Jean-François Carlin, Alok Rudra, Klaus Leifer, Claude-Albert Berseth
1998
Journal Articles

Résumé

We have evaluated the structure of high-reflectivity InP/InGaAsP distributed Bragg reflectors grown by chemical-beam epitaxy at a growth rate of 3 mu m/h. Transmission electron microscopy combined with electron energy loss spectroscopy indicate lateral fluctuations in the GaInAsP alloy composition, clearly visible in the 490-510 degrees C growth temperature range, but less perceptible between 460 and 480 degrees C. In the higher temperature range, the modulation in composition shows a higher frequency along the [1 (1) over bar 0] direction than along [1 1 0].

Source officielle

https://infoscience.epfl.ch/entities/publication/4ccedb0f-a11b-4894-9d48-1fd7e56eebfb

À propos de ce résultat

Cette page est générée automatiquement et peut contenir des informations qui ne sont pas correctes, complètes, à jour ou pertinentes par rapport à votre recherche. Il en va de même pour toutes les autres pages de ce site. Veillez à vérifier les informations auprès des sources officielles de l'EPFL.

Graph Chat

Chattez avec Graph Search

Posez n’importe quelle question sur les cours, conférences, exercices, recherches, actualités, etc. de l’EPFL ou essayez les exemples de questions ci-dessous.

AVERTISSEMENT : Le chatbot Graph n'est pas programmé pour fournir des réponses explicites ou catégoriques à vos questions. Il transforme plutôt vos questions en demandes API qui sont distribuées aux différents services informatiques officiellement administrés par l'EPFL. Son but est uniquement de collecter et de recommander des références pertinentes à des contenus que vous pouvez explorer pour vous aider à répondre à vos questions.

Elyahou Kapon, Jean-François Carlin, Alok Rudra, Klaus Leifer, Claude-Albert Berseth
1998
Journal Articles

Résumé

Source officielle

https://infoscience.epfl.ch/entities/publication/4ccedb0f-a11b-4894-9d48-1fd7e56eebfb

À propos de ce résultat

Concepts associés (27)

Microscopie électronique en transmission

vignette|upright=1.5|Principe de fonctionnement du microscope électronique en transmission. vignette|Un microscope électronique en transmission (1976). La microscopie électronique en transmission (MET, ou TEM pour l'anglais transmission electron microscopy) est une technique de microscopie où un faisceau d'électrons est « transmis » à travers un échantillon très mince. Les effets d'interaction entre les électrons et l'échantillon donnent naissance à une image, dont la résolution peut atteindre 0,08 nanomètre (voire ).

Microscope électronique

thumb|Microscope électronique construit par Ernst Ruska en 1933.thumb|Collection de microscopes électroniques anciens (National Museum of Health & Medicine). Un microscope électronique (ME) est un type de microscope qui utilise un faisceau d'électrons pour illuminer un échantillon et en créer une très agrandie. Il est inventé en 1931 par des ingénieurs allemands. Les microscopes électroniques ont un pouvoir de résolution supérieur aux microscopes optiques qui utilisent des rayonnements électromagnétiques visibles.

Auger electron spectroscopy

Auger electron spectroscopy (AES; pronounced oʒe in French) is a common analytical technique used specifically in the study of surfaces and, more generally, in the area of materials science. It is a form of electron spectroscopy that relies on the Auger effect, based on the analysis of energetic electrons emitted from an excited atom after a series of internal relaxation events. The Auger effect was discovered independently by both Lise Meitner and Pierre Auger in the 1920s.

Afficher plus

Publications associées (32)

Afficher plus

Evaluation of InP/InGaAsP distributed Bragg reflectors grown by chemical-beam epitaxy

Chattez avec Graph Search

Impact of static disorder on quasiparticle spectra: Debye-Waller, mean free path, and potential fluctuation effects

Development and characterization of FeMnSi-based shape-memory alloys with austenitic–ferritic duplex microstructure

Efficient, Reversible Lead Adsorption in a Thiol‐Decorated Zirconium‐Metal–Organic Framework